設(shè)備參數(shù)
| 規(guī)格型號 | KTM-CAF500 | KTM-CAF1000 | KTM-CAF1500 | KTM-CAF2000 | KTM-CAF2500 | KTM-CAF3000 |
| 電壓(V) | 500 | 1000 | 1500 | 2000 | 2500 | 3000 |
| 通道數(shù)量 | 128/256/384/512 | 128/256/384/512 | 128/256/384/512 | 128/256/384/512 | 128/256/384/512 | 128/256/384/512 |
| 測試組數(shù) | 8~32組(16通道/組) | 8~32組(16通道/組) | 8~32組(16通道/組) | 8~32組(16通道/組) | 8~32組(16通道/組) | 8~32組(16通道/組) |
| 測試電壓精度 | 5~20VDC(±3%) 21~500VDC(±1%) | 5~20VDC(±3%) 21~1000VDC(±1%) | 5~20VDC(±3%) 21~1000VDC(±1%) | 5~20VDC(±3%) 21~1000VDC(±1%) | 5~20VDC(±3%) 21~1000VDC(±1%) | 5~20VDC(±3%) 21~1000VDC(±1%) |
| 電壓間隔(V) | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 電阻測量范圍(Ω) | 1x106~1x1013 | 1x106~1x1014 | 1x106~1x1014 | 1x106~1x1014 | 1x106~1x1014 | 1x106~1x1014 |
| 電阻測量精度 | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) | 1x106~1x1010Ω ≤5% (測試電壓5V) |
| 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | 1x1010~1x1011Ω ≤10% (測試電壓5V) | |
| 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | 1x1011~1x1012Ω ≤15% (測試電壓50V) | |
| 1x1012~1x1013Ω ≤30% (測試電壓100V) | 1x1012~1x1013Ω ≤20% (測試電壓500V) | 1x1012~1x1013Ω ≤20% (測試電壓500V) | 1x1012~1x1013Ω ≤20% (測試電壓500V) | 1x1012~1x1013Ω ≤20% (測試電壓500V) | 1x1012~1x1013Ω ≤20% (測試電壓500V) | |
| 電阻測試速度 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 | 6秒/通道 512通道≤3分鐘 |
| 測試方式 | 連續(xù) | 連續(xù) | 連續(xù) | 連續(xù) | 連續(xù) | 連續(xù) |
| 自動給保存時間 | 1分鐘(可設(shè)) | 1分鐘(可設(shè)) | 1分鐘(可設(shè)) | 1分鐘(可設(shè)) | 1分鐘(可設(shè)) | 1分鐘(可設(shè)) |
| UPS保護時間 | 30分鐘 | 30分鐘 | 30分鐘 | 30分鐘 | 30分鐘 | 30分鐘 |
| 外形尺寸H*W*D(mm) | 1600x600x800 | 1600x600x800 | 1600x600x800 | 1600x600x800 | 1600x600x800 | 1600x600x800 |
| 輸入電壓 | AC220V±10% | AC220V±10% | AC220V±10% | AC220V±10% | AC220V±10% | AC220V±10% |
產(chǎn)品優(yōu)勢
CAF系列多路絕緣電阻測試設(shè)備(CAF Series Multi-Channel Insulation Resistance Test Chamber)系統(tǒng)配置臺主控計算機,1~4臺測試儀;最少搭配一臺多路絕緣電阻測試儀為128路,最多搭配四臺多路絕緣電阻測試儀為512路。是現(xiàn)代制造業(yè)中用于質(zhì)量控制的關(guān)鍵設(shè)備。它通過多通道并行處理和高度自動化,解決了傳統(tǒng)單通道測試儀效率低下的痛點,顯著降低了成本,是保證產(chǎn)品安全性和可靠性的理想選擇。

一、泰美科核心優(yōu)勢:
1、高通量、高效率
多通道并行測試:可同時連接數(shù)百個測試點,極大提升了測試效率,遠(yuǎn)超傳統(tǒng)單通道或手動萬用表的測試方式,非常適合統(tǒng)計性研究和質(zhì)量抽檢。
2、高精度與高穩(wěn)定性
采用高精度源表和低噪聲開關(guān)矩陣,確保在施加高電壓(如1000V DC)時,能準(zhǔn)確測量到的絕緣電阻值(可達10^16Ω),數(shù)據(jù)可靠可信。
3、自動化與智能化
由電腦軟件全自動控制,可自定義測試流程(如電壓、采樣間隔、測試時長)。
能夠?qū)崟r監(jiān)控、自動記錄所有通道的電阻數(shù)據(jù),并生成趨勢曲線和報告,極大減少了人力投入和人為誤差。
4、嚴(yán)苛環(huán)境模擬能力
設(shè)備通常與環(huán)境試驗箱聯(lián)用,可在高溫高濕(如85°C/85%RH)或溫度循環(huán)等惡劣條件下進行測試,真實模擬產(chǎn)品實際工作環(huán)境,提前發(fā)現(xiàn)潛在失效風(fēng)險。
5、安全性高
具備*的安全保護機制,如高壓互鎖、過流保護、電弧檢測等,保證人員和設(shè)備安全。
二、應(yīng)用領(lǐng)域
該設(shè)備主要應(yīng)用于對產(chǎn)品可靠性要求的領(lǐng)域:
PCB制造業(yè):
評估不同板材(FR-4、高速材料、金屬基板) 的抗CAF性能和長期絕緣可靠性。
驗證PCB設(shè)計(如線距、孔距)是否滿足電氣間隙和爬電距離的要求。
檢測制造工藝(如鉆孔、沉銅)對絕緣性能的影響。
基材材料行業(yè):玻璃纖維布、樹脂、半固化片等供應(yīng)商用于新材料研發(fā)和品質(zhì)認(rèn)證。
汽車電子:汽車電子控制器(ECU)必須具有的可靠性,該設(shè)備用于驗證其PCB在高溫高濕環(huán)境下的長期穩(wěn)定性。
航空航天與:用于滿足此類領(lǐng)域?qū)υ骷蚉CB極其嚴(yán)苛的可靠性與壽命要求。
消費電子與通信設(shè)備:服務(wù)器、5G基站等設(shè)備需要7x24小時不間斷工作,其PCB的絕緣可靠性至關(guān)重要。































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