SOC710 SWIR 短波紅外高光譜成像儀是原型號SOC720的升級版，更輕便、快捷、精確；是一款高質(zhì)量、高性能的科研級高光譜成像儀，光譜范圍900~1700nm。具有的高光譜分辨率 (2.75nm)， 成像分光計和高靈敏度的制冷型InGaAs 陣列檢測器，使得SOC710 SWIR能夠以16bit的數(shù)字分辨率同時收集640*568像素、288個波段的高光譜信息。其的性能及成像質(zhì)量，在同類產(chǎn)品中無出其右。

SOC公司具有40余年高光譜成像研發(fā)經(jīng)驗，具有多項高光譜成像領域。SOC還與美國NASA及長期合作，并參與了多款太空望遠鏡的光學模塊研發(fā)工作。

SOC710 SWIR為一體式設計，集成度高，開箱之后即可使用；具備內(nèi)置平移推掃裝置，不需另配掃描臺，即可任意方向或直接垂直向下掃描；掃描速度與積分時間自動匹配。*的內(nèi)置掃描和雙CCD設計，可以直接預覽待測區(qū)域圖像，內(nèi)置平移式平移推掃設計成功地解決了外置掃描方式無法避免的圖像畸變問題。真正的所見即所得！自動暗電流，自動匹配積分時間，預覽圖像自動提示曝光飽和，自動存儲；可按預設的測量間隔長期無人值守全自動監(jiān)測。系統(tǒng)采用SOC的HyperScanner 操作軟件和SRAnal710™校準和分析工具進行標定和數(shù)據(jù)處理。SOC處理器以的測量速度快速獲取光譜數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)以開放的BIL二進制格式保存，可以兼容ENVI等第三方數(shù)據(jù)分析軟件，適應多種研究應用。嚴格NIST可溯源校準，數(shù)據(jù)準確可靠。