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我公司視“打造國產(chǎn)的激光粒度儀器"為己任，以科技創(chuàng)品牌、質(zhì)量闖市場、信譽(yù)贏天下為方針，全力打造超穩(wěn)定、高性價(jià)比的國產(chǎn)激光粒度儀器。
JH-T190顆粒圖像儀是山東耐克特分析儀器有限公司的新一代顆粒圖像分析設(shè)備，JH-T190采用的工業(yè)級(jí)顯微圖像采集系統(tǒng)，使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返?/span>“單體數(shù)據(jù)"、“形態(tài)參數(shù)"、“整體分布"等參數(shù)進(jìn)行分析和計(jì)算，可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù)，是對(duì)各類顆粒樣品進(jìn)行觀測和分析的專業(yè)儀器設(shè)備。配套的專業(yè)顆粒分析軟件根據(jù)多年來用戶的使用意見進(jìn)行了更加人性化的升級(jí)和改進(jìn)，由計(jì)算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性"、以及包括長徑比、球型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)"。再通過進(jìn)一步計(jì)算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數(shù)據(jù)），軟件中還增加了多幅圖像拼接計(jì)算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數(shù)量，從而有效的保證了數(shù)據(jù)的代表性。最后可將樣品的數(shù)據(jù)以報(bào)告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等），非常便于測試人員對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行管理和匯報(bào)。
JH-T190 顯微顆粒圖像分析儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置
技術(shù)參數(shù)：
硬件參數(shù) | ||||
顯 微 系 統(tǒng) | 光路系統(tǒng) | 有限遠(yuǎn)機(jī)械筒長 | ||
觀察頭 | 45 度鉸鏈?zhǔn)饺款^ (50mm -75mm),對(duì)中望遠(yuǎn)鏡,可99%通光攝影 | |||
45 度鉸鏈?zhǔn)诫p目頭 (50mm -75mm),對(duì)中望遠(yuǎn)鏡 | ||||
目鏡 | WF10X/Ф20mm | |||
長工作距平場消色差物鏡 | 倍率 | 數(shù)值孔徑(N.A.) | 工作距離(W.D.) | |
10× | 0.25 | 8.1 | ||
25× | 0.4 | 4.8 | ||
40×(S) | 0.6 | 3.3 | ||
相襯物鏡 | 10× | 0.25 | 8.1 | |
放大倍數(shù) | 40×-400× | |||
物鏡轉(zhuǎn)輪 | 四孔內(nèi)向物鏡轉(zhuǎn)換器 | |||
載物臺(tái) | 雙層移動(dòng)平臺(tái):200mmX152mm,移動(dòng)范圍: 75mmX30mm | |||
聚光鏡 | N. A.0.4 阿貝聚光鏡,工作距離 30mm,帶濾色片托架 | |||
標(biāo)本架 | Φ68mm/Φ72或77mmX33mm培養(yǎng)器皿 | |||
相襯裝置 | 10×相襯環(huán)板中心可調(diào) | |||
調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦,帶鎖緊和限位裝置板,微動(dòng)格值:2μm,調(diào)焦范圍:30mm | |||
照明系統(tǒng) | 鹵素?zé)?/span> 6V/20W，可調(diào)光亮度 | |||
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |||
攝 像 系 統(tǒng) | 分辨率 | 2048×1536 | ||
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |||
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |||
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |||
清晰度 | 900線 | |||
信噪比 | 小于42dB | |||
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |||
輸出方式 | USB2.0 | |||
實(shí)際觀測范圍 | 1微米——3000微米 | |||
軟件參數(shù) | ||||
軟 件 功 能 | 靜態(tài)采集 | 將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片 | ||
圖片處理 | 使用多種畫圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡單的處理 | |||
圖像拼接 | 將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性 | |||
顆粒的自動(dòng)處理工具集 | 自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。 | |||
比例尺標(biāo)定 | 通過國家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，每次測試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。 | |||
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析 | |||
任務(wù)管理機(jī)制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |||
報(bào)告輸出 | 將測試結(jié)果輸出為報(bào)告，并可以自定義報(bào)告樣式。 | |||
整體分布特征參數(shù) | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |||
報(bào) 告 參 數(shù) | 整體頻率分布累計(jì)分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 | ||
統(tǒng)計(jì)平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑 | |||
形狀參數(shù) | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù) | |||
個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì) | 直接得到所觀測的顆粒數(shù)量 | |||
樣品縮略圖 | 可以將樣品縮略圖顯示到報(bào)告中 | |||
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中 | |||
自定義LOGO | 用戶可以自定義LOGO和報(bào)告名稱，使輸出的報(bào)告顯示自己公司的信息 | |||
產(chǎn)品優(yōu)勢 ：
JH-T190顆粒圖像儀"作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆?；蝾w粒相關(guān)行業(yè)設(shè)計(jì)開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下方面：
※1 、專業(yè)性強(qiáng)：與其他廠家生產(chǎn)的各種類型圖像分析儀器相比，山東耐克特專業(yè)的顆粒測試研究經(jīng)驗(yàn)與圖像學(xué)理論結(jié)合，是“JH-T190顆粒圖像儀"專業(yè)性的保證。本產(chǎn)品不但可對(duì)樣品的顆粒單體的進(jìn)行科學(xué)描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助激光粒度儀等設(shè)備更好的進(jìn)行顆粒測試工作。
※2、數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結(jié)果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進(jìn)行顆粒檢測的同時(shí)還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設(shè)備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對(duì)照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報(bào)告中的數(shù)據(jù)含義。
※3、應(yīng)用廣泛，性價(jià)比*：“JH-T190顆粒圖像儀"既可以作為一種觀測儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進(jìn)行各種樣品的觀測工作，又可以計(jì)算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，操作直觀簡便，應(yīng)用范圍十分廣泛。
測試報(bào)告模板：
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