產(chǎn)品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,緊湊型且通用的X射線測量儀器,非常適合無損涂層厚度測量和材料分析。XAN 250和XAN 252儀器特別適合于測量和分析薄涂層,即使其成分非常復(fù)雜或濃度很小。高性能X射線熒光測量儀,用于快速無損材料分析和涂層厚度測量。高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250,高性能X射線熒光測量儀,配有**進(jìn)的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
主要特點(diǎn):
? 高性能機(jī)型,具有的綜合測量能力? 配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復(fù)雜的多元素分析
? 由下至上的測量方向,可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
? 高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
? 對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量? 對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量
? 在珠寶和手表業(yè),以及在金屬精煉領(lǐng)域,對合金進(jìn)行高精度的分析
? 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
規(guī)格參數(shù):
| 預(yù)期用途 | 能量色散X射線熒光測量儀(EDXRF)用于測量薄涂層,痕量元素和合金 |
| 元素范圍 | 鋁(13)到鈾(92)–同時(shí)*多24個(gè)元素 |
| 測量方向 | 自下而上 |
| X射線探測器 | 硅漂移檢測器(SDD) |
| 分辨率(fwhm for Mn-Kα) | ≤ 160 eV |
| 測量點(diǎn) | ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測量距離0毫米) |
| 測量距離 | 0…25毫米(0…1英寸) |
| 樣品定位 | 手動(dòng) |
| 縮放系數(shù) | Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
| *大樣品重量 | 13 kg (29 lb) |
| 電源 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 外形尺寸 | 403 x 588 x 365 mm |




































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