大型高低溫箱 電子元器件可靠性老化測(cè)試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
產(chǎn)品詳情
本設(shè)備為大型高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱,專為電子元器件批量可靠性老化測(cè)試而研制。采用模塊化制冷系統(tǒng)與多翼離心送風(fēng)結(jié)構(gòu),內(nèi)箱容積可達(dá)千升級(jí)別,支持寬溫度范圍(-70℃~+150℃)控制。箱體采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼內(nèi)膽與高密度保溫層,配備大型觀察窗及安全保護(hù)裝置,確保長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行下的穩(wěn)定性與安全性。
大型高低溫箱 電子元器件可靠性老化測(cè)試
用途
主要用于模擬電子元器件在高低溫及溫度變化環(huán)境下的存儲(chǔ)、工作及耐久性狀態(tài),加速暴露產(chǎn)品潛在缺陷(如焊接開裂、參數(shù)漂移、絕緣性能下降等),從而評(píng)估其是否滿足設(shè)計(jì)壽命及可靠性指標(biāo)要求,是品質(zhì)管控與研發(fā)驗(yàn)證的核心手段。
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:-70℃~+150℃(可調(diào))
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤±2.0℃(空載條件下)
升溫速率:平均1.0~3.0℃/min
降溫速率:平均0.7~1.5℃/min
內(nèi)箱尺寸:可定制(如W1000×H1000×D1000mm及以上)
控制器:7英寸彩色觸摸屏可程式控制器,支持千段程式編輯
應(yīng)用場(chǎng)景
廣泛應(yīng)用于電子元器件生產(chǎn)車間、質(zhì)檢中心、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室及第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。典型場(chǎng)景包括:晶體管、集成電路(IC)、電容電阻、繼電器、連接器等器件在高溫存儲(chǔ)、低溫啟動(dòng)、溫度循環(huán)老化過程中的批量篩選與失效分析,尤其適用于車規(guī)級(jí)元器件(AEC-Q100/Q200)的可靠性驗(yàn)證。
技術(shù)特點(diǎn)
采用平衡調(diào)溫(BTC)系統(tǒng),制冷與加熱動(dòng)態(tài)耦合,節(jié)能且響應(yīng)迅速
獨(dú)特的風(fēng)道設(shè)計(jì)保證大空間內(nèi)溫度場(chǎng)均勻
配備多組測(cè)試引線孔,便于帶電負(fù)載及信號(hào)在線監(jiān)測(cè)
壓縮機(jī)過載、超溫、缺水等多重保護(hù),支持無人值守安全運(yùn)行
應(yīng)用領(lǐng)域
主要面向消費(fèi)電子、汽車電子、航空航天電子、通信設(shè)備、醫(yī)療電子等行業(yè)的元器件供應(yīng)商及整機(jī)制造商。同時(shí)適用于研究所、高校電子工程實(shí)驗(yàn)室對(duì)新型半導(dǎo)體材料及微電子器件的環(huán)境適應(yīng)性研究。
性能特點(diǎn)
寬溫域覆蓋,滿足從極寒到酷熱的全氣候模擬需求
長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行穩(wěn)定性優(yōu)異,適合72h~1000h以上的長(zhǎng)效老化試驗(yàn)
低溫時(shí)蒸發(fā)器不結(jié)霜,降溫效率持久不衰減
低噪音運(yùn)行,箱體密封性良好,符合環(huán)保冷媒使用規(guī)范
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
自主開發(fā)溫控算法,溫度過沖小,到達(dá)設(shè)定值后快速進(jìn)入穩(wěn)態(tài)
制冷系統(tǒng)采用能量調(diào)節(jié)技術(shù),部分負(fù)載時(shí)自動(dòng)卸載,大幅降低能耗
支持與上位機(jī)軟件通訊,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)記錄及曲線導(dǎo)出
內(nèi)箱無凸起結(jié)構(gòu),便于樣品架多層擺放及清潔維護(hù)
滿足標(biāo)準(zhǔn)
全面符合以下國(guó)內(nèi)外試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.1(低溫)、GB/T 2423.2(高溫)、GB/T 2423.22(溫度變化)
IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、IEC 60068-2-14
MIL-STD-810G(環(huán)境工程相關(guān)部分)
JIS C 60068系列
滿足AEC-Q100/Q200中溫度循環(huán)及高溫老化測(cè)試條件











































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