塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-3S

鄭重承諾：甄選供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達到！

         堅決不做低價、減配、低品質(zhì)的經(jīng)濟版本和精簡版等系統(tǒng)，維護國內(nèi)用戶的利益！
 

備注：CTA-3S系統(tǒng)顏色包括紅色和藍色，隨機發(fā)貨！

  熱電材料測試系統(tǒng)CTA-3S系統(tǒng)是在CTA-3系統(tǒng)的基礎(chǔ)上升級性能更加的硬件（數(shù)據(jù)采集、變壓器、功率調(diào)控模塊、溫度調(diào)節(jié)器和電磁場屏蔽處理、溫度控制方式等優(yōu)化），提高了溫度場控制精度和測量數(shù)據(jù)的準確性和重復(fù)性。

技術(shù)特點：

·    可控溫場下可同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率

·    標準配置進口高級商用吉時利（Keithley ）數(shù)采儀表，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差

Keithley技術(shù)：

                100nV rms 噪音本底

                直流電壓靈敏度低至 10nV，基本精度為 0.002%（90天）

                7ppm DCV 可重復(fù)性，基本 1 年 DCV 準確度：0.0028%

                讀取速度范圍：2k 讀數(shù)/秒；

                溫度分辨率：0.001℃；

                交流電壓分辨率：0.1μV

                電阻分辨率：1 μΩ

                電流分辨率：1nA

                低功耗歐姆測量模式

                弱電流電路測試功能

                偏置補償歐姆功能

                檢定低壓元件又快又準確

                提高測量精度的置信度

                以低至 100μA 的源電流測量低阻抗，減少設(shè)備自發(fā)熱

                進行電阻測量時控制測試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

                消除會在系統(tǒng)環(huán)境中進行低電平電阻測量時產(chǎn)生錯誤的熱效應(yīng)

                提供更精確的低電阻測量

·    標配進口高級商用電流源（ADCMT），非電路板集成恒流源，避免無法精準輸出小電流而產(chǎn)生熱效應(yīng)和測不準

·    恒流源參數(shù)：0.000-220mA；恒流設(shè)置分辨率：100nA；恒流穩(wěn)定性：0.008+20nA/天

·    溫度范圍：RT up to 1150℃

·    光波爐加熱技術(shù)，潔凈加熱不污染樣品和無揮發(fā)性，對操作者安全健康；整體水路設(shè)計和鍍金處理，無水垢堵塞問題，終身免維護
·    控溫速率：0.01 –100K/min，可以節(jié)約用戶測試時間

·    配置垂直放樣結(jié)構(gòu)，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差

·    測量范圍：賽貝克系數(shù)：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm

·    0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點的個數(shù)

·    U-I曲線自動掃描，計算出合適的電流數(shù)值， 可以精確測量電導(dǎo)率；不會對大電阻樣品產(chǎn)生誤差

·    鉑金大電極設(shè)計，和樣品可充分接觸，對于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測試

·    熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定，滿足不同科研要求

·    精度：賽貝克系數(shù)：±7 %；電導(dǎo)系數(shù)：±10 %（熱電材料測試，非康銅標樣）；

·    重復(fù)性：3%

·    高級應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測量步進等高級要求

·    自由升/降溫、可精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量 

·    熱電偶探針可選K、S、R型（無需鎧裝）配置，不會產(chǎn)生非常大的接觸電阻

·    自動壓力安全保護設(shè)計，進口美國航天級硬件配置，確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

·    測量系統(tǒng)：柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統(tǒng)