一、工作原理

相位差雙折射內(nèi)部翹曲測(cè)量?jī)x基于多波段雙折射光彈原理，光線穿過透明材料內(nèi)部時(shí)，受材料應(yīng)力、分子取向影響產(chǎn)生雙折射效應(yīng)，使入射偏振光產(chǎn)生相位延遲。設(shè)備采集不同波長(zhǎng)下的偏振光相位差信息，解析得到材料雙折射量、相位差、內(nèi)部翹曲形變等關(guān)鍵數(shù)據(jù)。設(shè)備搭載專用測(cè)量計(jì)算機(jī)，有效降低人為操作帶來的測(cè)量偏差，方便海量測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、回溯與品質(zhì)分析；設(shè)備預(yù)留豐富擴(kuò)展接口，可對(duì)接自動(dòng)化載臺(tái)、成像模塊，實(shí)現(xiàn)批量自動(dòng)化檢測(cè)。

特點(diǎn)：

1.采用多波段雙折射檢測(cè)技術(shù)，可檢測(cè)高量程相位差指標(biāo)；

2.自動(dòng)化測(cè)量模式，規(guī)避操作人員引入的人為誤差；

3.測(cè)量數(shù)據(jù)電腦端存儲(chǔ)管理，適配生產(chǎn)品質(zhì)管控；

4.支持多模式解析算法，復(fù)雜樣品可手動(dòng)輔助測(cè)量；

5.多波長(zhǎng)光學(xué)光源，光源壽命長(zhǎng)，運(yùn)行穩(wěn)定；

6.配套多組基準(zhǔn)相位差校準(zhǔn)板，保障整機(jī)測(cè)量精度與重復(fù)性。

二、技術(shù)參數(shù)

2.1 依托多波段雙折射光彈原理，可測(cè)量水晶、光學(xué)鏡片、透明板材等多種透光材料的相位差與雙折射參數(shù)。

2.2 可與應(yīng)力檢測(cè)設(shè)備數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)，綜合解析材料內(nèi)部應(yīng)力?雙折射?翹曲形變的關(guān)聯(lián)分布。

2.3 相位差測(cè)量范圍：WPA 機(jī)型 0?3500nm（水晶基準(zhǔn)）；PA 機(jī)型 0?130nm（水晶基準(zhǔn)）

2.4 重復(fù)再現(xiàn)精度：WPA：＜1nm；PA：＜0.1nm（標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)板為基準(zhǔn)）

2.5 像素規(guī)格：WPA 約 11 萬像素；PA 約 500 萬像素

2.6 測(cè)量波長(zhǎng)：WPA：523nm、543nm、575nm；PA：520nm

2.7 測(cè)量對(duì)象：光學(xué)水晶、各類光學(xué)鏡片、透明高分子板材、玻璃、顯微試樣等透明 / 半透明樣品

2.8 測(cè)量功能：鏡片解析、CD 模式色散分析、廣視野補(bǔ)正、內(nèi)部翹曲形變檢測(cè)

2.9 PC：專用工控電腦，預(yù)裝操作系統(tǒng)與全套測(cè)量解析軟件

三、使用須知

1.測(cè)量時(shí)請(qǐng)使用原廠配套相位差校準(zhǔn)板，保障檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；

2.放置被測(cè)樣品動(dòng)作輕柔，避免磕碰損傷鏡頭與光學(xué)載臺(tái)；成像畫面模糊時(shí)，可用無塵棉棒蘸取工業(yè)酒精輕柔清潔光學(xué)鏡頭、載臺(tái)玻璃；

3.測(cè)量專用電腦建議隔絕外網(wǎng)，避免接入帶病毒的 U 盤、移動(dòng)硬盤，防止軟件損壞；

4.設(shè)備需室內(nèi)環(huán)境使用，避開強(qiáng)光直射，環(huán)境溫濕度適中，無腐蝕性氣體；

5.設(shè)備遠(yuǎn)離強(qiáng)酸強(qiáng)堿、各類化學(xué)試劑；

6.妥善保管原廠操作手冊(cè)、出廠檢測(cè)報(bào)告；

7.光源模塊達(dá)到使用壽命后，請(qǐng)更換原廠配件再繼續(xù)開展檢測(cè)；

8.妥善保管軟件密碼狗，丟失將無法運(yùn)行測(cè)量軟件；

9.配套電腦禁止強(qiáng)制斷電關(guān)機(jī)，防止系統(tǒng)、測(cè)量軟件損壞；

10.設(shè)備運(yùn)行出現(xiàn)異常故障，請(qǐng)馬上聯(lián)系供應(yīng)商處理。