一、工作原理

相位差雙折射內部翹曲測量儀基于多波段雙折射光彈原理，光線穿過透明材料內部時，受材料應力、分子取向影響產(chǎn)生雙折射效應，使入射偏振光產(chǎn)生相位延遲。設備采集不同波長下的偏振光相位差信息，解析得到材料雙折射量、相位差、內部翹曲形變等關鍵數(shù)據(jù)。設備搭載專用測量計算機，有效降低人為操作帶來的測量偏差，方便海量測試數(shù)據(jù)存儲、回溯與品質分析；設備預留豐富擴展接口，可對接自動化載臺、成像模塊，實現(xiàn)批量自動化檢測。

特點：

1.采用多波段雙折射檢測技術，可檢測高量程相位差指標；

2.自動化測量模式，規(guī)避操作人員引入的人為誤差；

3.測量數(shù)據(jù)電腦端存儲管理，適配生產(chǎn)品質管控；

4.支持多模式解析算法，復雜樣品可手動輔助測量；

5.多波長光學光源，光源壽命長，運行穩(wěn)定；

6.配套多組基準相位差校準板，保障整機測量精度與重復性。

二、技術參數(shù)

2.1 依托多波段雙折射光彈原理，可測量水晶、光學鏡片、透明板材等多種透光材料的相位差與雙折射參數(shù)。

2.2 可與應力檢測設備數(shù)據(jù)聯(lián)動，綜合解析材料內部應力?雙折射?翹曲形變的關聯(lián)分布。

2.3 相位差測量范圍：WPA 機型 0?3500nm（水晶基準）；PA 機型 0?130nm（水晶基準）

2.4 重復再現(xiàn)精度：WPA：＜1nm；PA：＜0.1nm（標準校準板為基準）

2.5 像素規(guī)格：WPA 約 11 萬像素；PA 約 500 萬像素

2.6 測量波長：WPA：523nm、543nm、575nm；PA：520nm

2.7 測量對象：光學水晶、各類光學鏡片、透明高分子板材、玻璃、顯微試樣等透明 / 半透明樣品

2.8 測量功能：鏡片解析、CD 模式色散分析、廣視野補正、內部翹曲形變檢測

2.9 PC：專用工控電腦，預裝操作系統(tǒng)與全套測量解析軟件

三、使用須知

1.測量時請使用原廠配套相位差校準板，保障檢測數(shù)據(jù)準確；

2.放置被測樣品動作輕柔，避免磕碰損傷鏡頭與光學載臺；成像畫面模糊時，可用無塵棉棒蘸取工業(yè)酒精輕柔清潔光學鏡頭、載臺玻璃；

3.測量專用電腦建議隔絕外網(wǎng)，避免接入帶病毒的 U 盤、移動硬盤，防止軟件損壞；

4.設備需室內環(huán)境使用，避開強光直射，環(huán)境溫濕度適中，無腐蝕性氣體；

5.設備遠離強酸強堿、各類化學試劑；

6.妥善保管原廠操作手冊、出廠檢測報告；

7.光源模塊達到使用壽命后，請更換原廠配件再繼續(xù)開展檢測；

8.妥善保管軟件密碼狗，丟失將無法運行測量軟件；

9.配套電腦禁止強制斷電關機，防止系統(tǒng)、測量軟件損壞；

10.設備運行出現(xiàn)異常故障，請馬上聯(lián)系供應商處理。