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公司介紹主營產(chǎn)品

致力于通過專業(yè)、細(xì)致和全面的服務(wù)為客戶提供全球高品質(zhì)的科研實(shí)驗室儀器設(shè)備，并度身定制系統(tǒng)的實(shí)驗室整體解決方案。服務(wù)范圍包括醫(yī)藥，生命科學(xué)，材料科學(xué)等高科技領(lǐng)域。

企業(yè)理念：優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、顧客滿意，是我們的承諾企業(yè)愿景：創(chuàng)造滿足客戶期望的商業(yè)價值企業(yè)價值觀：客戶為中心，艱苦奮斗、永續(xù)學(xué)習(xí)、自我否定、不斷創(chuàng)新

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產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	否	適用行業(yè)	電子電器

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng)是現(xiàn)代光學(xué)鍍膜、半導(dǎo)體器件、顯示器件、光伏材料以及高性能功能化表面研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的重要手段。對膜層厚度、光學(xué)特性以及鍍膜均勻性開展精準(zhǔn)表征，有助于保障產(chǎn)品性能、工藝穩(wěn)定性以及生產(chǎn)良率。

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng)產(chǎn)品概述：

薄膜量測是現(xiàn)代光學(xué)鍍膜、半導(dǎo)體器件、顯示器件、光伏材料以及高性能功能化表面研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的重要手段。對膜層厚度、光學(xué)特性以及鍍膜均勻性開展精準(zhǔn)表征，有助于保障產(chǎn)品性能、工藝穩(wěn)定性以及生產(chǎn)良率。

StellarNet 薄膜量測系統(tǒng)融合先進(jìn)光譜分析與光譜反射檢測技術(shù)，配套高性能光譜儀、光學(xué)配件以及功能優(yōu)異的分析軟件，實(shí)現(xiàn)各類薄膜與鍍膜樣品檢測。該設(shè)備平臺適配光學(xué)鍍膜表征、半導(dǎo)體量測、工藝監(jiān)控以及前沿材料研究，可應(yīng)用于科研、生產(chǎn)、質(zhì)量控制等多種場景。

薄膜厚度測量：

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng)

采用非接觸式光譜光學(xué)技術(shù)測量薄膜與涂層厚度，適用于光學(xué)鍍膜、半導(dǎo)體器件、顯示器件以及前沿材料研究場景。

反射?透射光譜法

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng)

可測量半導(dǎo)體制造中的各類薄膜、介質(zhì)層、光刻膠以及沉積涂層，支持晶圓表征、工藝監(jiān)控與質(zhì)量控制。

太陽能與光伏測量：

借助光譜光學(xué)技術(shù)分析薄膜太陽能電池、光伏鍍膜及能源材料，可用于研發(fā)以及生產(chǎn)質(zhì)量驗證。

顯示技術(shù)測量

對 LCD、OLED 以及 Micro?LED 顯示屏所用薄膜與涂層開展表征，支持工藝開發(fā)、質(zhì)量保證以及顯示性能評估。

光子器件測量采用非接觸薄膜量測與光學(xué)表征技術(shù)，對硅光子學(xué)器件、光子集成電路（PIC）、光波導(dǎo)、激光光學(xué)器件以及量子光子器件開展表征。

光學(xué)鍍膜測量可對增透膜、光學(xué)濾光片、反射鏡以及激光光學(xué)元件進(jìn)行表征。借助光譜量測技術(shù)，核驗鍍膜厚度、均勻性以及光學(xué)性能。

StellarNet Thin film薄膜測量系統(tǒng)選型表：

型號	波長范圍	分辨率	膜厚范圍	光源類型	價格
TF-VIS	400–1000 nm	<2 nm	10 nm–75 μm	可見光 / 近紅外	$11,500
TF-UVVIS	200–1100 nm	<2.5 nm	1 nm–75 μm	紫外 + 可見光 / 近紅外	$14,625
TF-NIR	900–1700 nm	<5 nm	100 nm–300 μm	可見光 / 近紅外	$22,655
TF-VIS-NIR	400–1700 nm	<2 nm（可見光），<5>1000 nm）	10 nm–300 μm	可見光 / 近紅外	$25,280
TF-UVVIS-NIR	200–1700 nm	<2 nm（可見光），<5>1000 nm）	1 nm–300 μm	紫外 + 可見光 / 近紅外	$28,245

顯微測量系統(tǒng)：

型號	配置說明	價格
TF-Micro	StellarNet 定制顯微鏡，配備 4×、10×、40× 物鏡，CMOS 130 萬像素相機(jī)，光開關(guān)及所需耦合配件	$11,550.00
TF-Micro-AM	StellarNet 定制自動映射顯微鏡，配備 4×、10×、40× 物鏡，CMOS 130 萬像素相機(jī)，光開關(guān)及所需耦合配件	$30,975.00

技術(shù)規(guī)格：

規(guī)格項	規(guī)格值	說明
精度	0.1 ?；?0.01%（取較大值）	重復(fù)測量的一致性
準(zhǔn)確度	0.2% 或 10 埃（取較大值）	受膜層堆疊結(jié)構(gòu)影響
穩(wěn)定性	0.2 ?；?0.02%（取較大值）	長時間測量穩(wěn)定性
光斑尺寸	標(biāo)準(zhǔn) 3 毫米，最小可選至 3 微米	測量區(qū)域大小
樣品尺寸	最小 1 毫米起	可測樣品最小尺寸
電腦操作系統(tǒng)	StellarPro?TFC 軟件，支持 32 位與 64 位操作系統(tǒng)	兼容 Windows 32/64 位

關(guān)鍵詞：顯示器光譜儀顯示屏顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
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