我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發(fā)射角度光譜分析系統(tǒng)(OLED光譜分析儀)、載流子遷移率測量系統(tǒng)、電學(xué)性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng),為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有力的測試工具。
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主要測試功能:
OLED效率測量/EQE測量,Lm/W 和 Cd/A;
發(fā)射角度測量;
光譜&顏色測量@發(fā)射角;
CIE xyY測量;
視角測量;
IVL(電流—電壓—亮度)測量;
PL光致發(fā)光和EL電致發(fā)光測量;
極化測量;
主要技術(shù)規(guī)格:
角度范圍:-85°~+85°;
光譜范圍:360nm~880nm,分辨率1.2nm;

































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