布魯克掃描探針顯微鏡Icon一代 Dimension系列 AFM，自2000年面世以來，布魯克通用機械性能測試儀(UMT)一直是市場上功能多、使用較廣的摩擦磨損試驗機?，F(xiàn)在，全新設(shè)計的UMT TriboLab，在傳統(tǒng)通用性基礎(chǔ)上，采用*的模塊化概念，提供了更多的功能和更好的性能。與以前的UMT產(chǎn)品和競爭對手相比，UMT TriboLab?提供更快的速度、更大的扭矩、和更好的力測量。另外，它引入了一些*的新功能，大大提高了工作效率和易用性。

功能特點：布魯克掃描探針顯微鏡Icon

◆結(jié)合Veeco的行業(yè)*的針尖-掃描AFM技術(shù)，Icon的溫度補償定位傳感器使Z軸的的噪音水平達到亞-埃米級，X-Y方向達埃米級。在大樣品臺、90微米掃描范圍系統(tǒng)的儀器當中，這種表現(xiàn)是非常突出的，優(yōu)于絕大部分的開環(huán)、高分辨率AFM系統(tǒng)的噪音水平。

◆Icon不僅具有非常好的分辨率，它還具備許多新的特性，以增加新老AFM用戶操作儀器的便捷性及出圖像速率：

◆設(shè)計的掃描管，實現(xiàn)閉環(huán)掃描功能同時，具有開環(huán)掃描管的噪音水平，在大樣品AFM系統(tǒng)中實現(xiàn)*的分辨率

◆全新設(shè)計的XYZ閉環(huán)掃描管，在不影響圖像質(zhì)量下具有非常高的掃描速度，具有非?？斓臄?shù)據(jù)采集能力

◆的NanoScope軟件版本，提供直觀的操作流程及默認實驗?zāi)K，將復(fù)雜的AFM操作流程轉(zhuǎn)化為預(yù)先設(shè)置

◆高分辨率的照相機及X-Y定位，實現(xiàn)更迅速、更有效的樣品定位

◆*開放的針尖及樣品環(huán)境，適用于絕大部分的標準或定制實驗

◆硬件及軟件設(shè)置適用Veeco現(xiàn)有的及即將推出的所有模式及技術(shù)，包括現(xiàn)有的的HarmoniX納米材料性能成像模式

技術(shù)參數(shù)：

◆X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，小85um

◆Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；小9.5um

◆垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達到625Hz）

◆X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.15nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）

◆X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.10nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）

◆Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：<35pm RMS, 典型成像帶寬（達到625Hz）

◆整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

◆樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑210mm, 厚度15mm

◆電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復(fù)性；雙向3um重復(fù)性。

◆顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)：五百萬像素數(shù)字照相機（180um至1465um可視范圍，數(shù)字縮放及自動對焦功能）

◆控制器：NanoScope V型控制器

◆工作臺：整合所有控制器、結(jié)合人體工學(xué)設(shè)計，提供直接的物理或可視借口

◆震動隔絕：整體式氣動減震臺

◆聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音