菲希爾XDL系列膜厚儀,是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY光譜膜厚儀XDL-B系列,其非破壞式的測量,特別適合金屬鍍層厚度檢測,如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量檢測。其采用了高次數(shù)率的比例接收器,可以在沒有標準片的情況下,對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量,另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,可測量多至24元素,這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列的*穩(wěn)定性是十分高的,這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù),便于管理儀器,并提高生產(chǎn)效率.應用范圍廣泛,包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層(如:裝飾性鉻的鍍層)、在電子及半導體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析。


































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