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X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且,可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
X射線發(fā)生部:2KW或3KW(CUP控制)
測(cè)角儀:θs/ θd聯(lián)動(dòng),θs、θd獨(dú)立
掃描范圍:-12°~164°(2θ),-6°~82°(θs), -6°~132°(θd)
選配件:大型R-θ樣品臺(tái),多毛細(xì)管平行光學(xué)系統(tǒng)
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且,可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
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| 配備具有0.0001°zui小步進(jìn)的高精度樣品水平型測(cè)角儀。根據(jù)分析目的,可以選擇適合分析大型樣品的L型(zui大350mmφ樣品)和通用的S型。 |
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀,能夠測(cè)定超大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析,還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件,還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。
![]() · 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái),可以進(jìn)行zui大350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測(cè)定。 | |
· 采用*的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng),可對(duì)應(yīng)凹凸不同的樣品的分析,擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
使用多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)的測(cè)定實(shí)例
(品/食品/生體篇)
(機(jī)械部件篇)
致電熱線






































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