S-4800日立掃描電子顯微鏡(SEM)
Hitachi S-4800簡介:
日本Hitachi公司生產(chǎn)S-4800型SEM,采用的E×B技術,可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。配有X-射線能譜儀,可在形貌觀察的同時進行樣品成分分析。
儀器主要配置:
X射線能譜儀,離子濺射儀,真空蒸鍍儀,冷凍干燥機。
主要性能指標:
1. 二次電子分辨率:1.4nm(1kV,減速模式);1nm(15kV)
2. 電子槍:冷場發(fā)射電子源
3. 加速電壓:0.5 ~ 30 kV
4. 放大倍數(shù):×20 ~ ×800,000
5. 探測器:低位/高位二次電子探測器
應用領域:
主要用于生物體、高分子、無機非金屬、金屬材料等樣品的表面形貌觀察及元素成分分析。廣泛應用于生物、能源、材料、化工、環(huán)境等研究領域。



































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