產(chǎn)品說明：

石墨烯薄膜檢測(cè)系統(tǒng)  薄膜檢測(cè)系統(tǒng)  二維材料檢測(cè)系統(tǒng)  導(dǎo)電薄膜檢測(cè)系統(tǒng)

產(chǎn)品描述：

石墨烯和二維薄層材料檢測(cè)系統(tǒng)是用太赫茲技術(shù)檢測(cè)薄膜或薄層材料質(zhì)量的革命性檢測(cè)儀器。這個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)薄膜和二維材料進(jìn)行充分和快速的質(zhì)量檢驗(yàn)，給出的是均勻性和*性的二維Mapping測(cè)試結(jié)果，快速地反饋所制備材料材料的質(zhì)量，以避免不必要的錯(cuò)誤再次發(fā)生。它是在納米尺度和宏觀尺度之間架起的一座橋梁。這套檢測(cè)設(shè)備既適合大規(guī)模生產(chǎn)，也適合實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)和特點(diǎn)：

● 均勻性和*性檢測(cè)

● 對(duì)整個(gè)樣品的質(zhì)量控制

● 樣品尺寸：從2 x 2 mm到200mm x 200mm

● 定制檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)面積可達(dá)m²量級(jí)(工業(yè)用)

● 不同的襯底上生長的薄膜：如PET、石英、玻璃、SiC、Si等

● 無接觸、無損傷檢測(cè)分析

● 超快檢測(cè)：12cm²/分鐘

● 太赫茲發(fā)射器和接收器

● 單面檢測(cè)

● 無需制備樣品，即時(shí)檢測(cè)

● 100um的橫向分辨率

● 即使探測(cè)不同類型的同種材料可一次性進(jìn)行表征

● 3軸自定位系統(tǒng)

● 既適合大規(guī)模生產(chǎn)，也適合實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)

● 全自動(dòng)

● 結(jié)實(shí)耐用，使用方便

應(yīng)用：

● 單層石墨烯、雙層石墨烯、多層石墨烯

● 在SiC基底(襯底)上生長的石墨烯

● 摻雜石墨烯

● PEDOT

● 原子層(ALD)沉積樣品

● 旋涂的感光樹脂的均勻性

● ITO

● NbC薄膜

● IZO薄膜

● ALD – ZnO薄膜

● 其它二維材料