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原位監(jiān)測橢偏儀IMS型是在科研級光譜橢偏儀的基礎(chǔ)上,根據(jù)有機/無機鍍膜工藝研究的需要研發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測儀器,可用于金屬薄膜、無機薄膜、有機薄膜的蒸鍍、濺射等...
寬光譜成像光譜橢偏儀IE-L系列是結(jié)合單/雙旋轉(zhuǎn)補償器橢偏調(diào)制技術(shù)和光學(xué)成像技術(shù),實現(xiàn)對薄膜和納米結(jié)構(gòu)的實時可視化分析測量??赏瑫r高橫向分辨率的得到視場內(nèi)樣品上...
自動光譜橢偏儀SE-L型是一款科研級全自動高精度光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參...
自動光譜橢偏儀SE-L型是一款科研級全自動高精度光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參...
光譜橢偏儀SE-VE型是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快...
光譜橢偏儀SE-VM型是一款科研級高精度快速測量光譜橢偏儀,可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料...
光譜橢偏儀Mapping系列是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動Mapping測量模塊。...
全自動Mapping光譜橢偏儀SE-100A是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,集眾多頤光科技技術(shù)于一體,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動Mapp...
寬光譜穆勒矩陣橢偏儀ME-L型是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,可通過反射/透射率、橢偏參數(shù)、穆勒矩陣和退偏指數(shù)等參數(shù)測量,實現(xiàn)各種光學(xué)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的...
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