詳細摘要： GDS-200晶振綜合測試儀集頻率測量、阻抗分析、溫度特性測試于一體，覆蓋超寬頻段，適合研發(fā)和計量檢測。
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廣州智慧源電子有限公司
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詳細摘要： GDS-200晶振綜合測試儀集頻率測量、阻抗分析、溫度特性測試于一體，覆蓋超寬頻段，適合研發(fā)和計量檢測。
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詳細摘要： GDS-80A晶振測試儀支持寬頻段測量，具備溫度特性分析功能，適用于實驗室分析和生產(chǎn)線質(zhì)量控制的晶體振蕩器參數(shù)測試。
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詳細摘要： GDS-5C晶振測試儀適用于32.768kHz至200MHz頻率范圍內(nèi)的石英晶體振蕩器檢測，具有測量精度高、操作簡便、穩(wěn)定性好等特點。
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詳細摘要： GDS-5B插件晶振諧振器測試儀適用于寬頻段晶體振蕩器參數(shù)檢測，具有測量精度高、操作簡便、穩(wěn)定性好等特點，支持USB數(shù)據(jù)存儲和自動化測試。
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詳細摘要： GDS-5T貼片晶體參數(shù)檢測儀具備頻率測量和阻抗分析功能，覆蓋1Hz至12GHz頻段，適用于通信、電力、科研等領(lǐng)域的高精度檢測。
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詳細摘要： GDS-80A石英晶體阻抗分析儀支持13位頻率和四位PPM同時顯示，內(nèi)置SPC統(tǒng)計功能，適用于工廠質(zhì)量檢測和來料檢驗場景。
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詳細摘要： GDS-5C晶振參數(shù)測量設備采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-3B晶體諧振頻率測試儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-200石英晶振檢測設備支持13位頻率和四位PPM同時顯示，內(nèi)置SPC統(tǒng)計功能，適用于工廠質(zhì)量檢測和來料檢驗場景。
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詳細摘要： GDS-80無源晶振諧振頻率測試儀集頻率測量、溫度特性分析于一體，測量精度達±0.1ppm，適用于晶振產(chǎn)線全檢和研發(fā)驗證。
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詳細摘要： GDS-5B插件晶體頻率分析儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-5T貼片晶振性能測試儀集頻率測量、溫度特性分析于一體，測量精度達±0.1ppm，適用于晶振產(chǎn)線全檢和研發(fā)驗證。
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詳細摘要： GDS-80A晶體阻抗測試儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-5C晶振頻率測量儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-3B石英晶體振蕩器檢測儀采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-200晶振綜合參數(shù)測試儀具備頻率測量和阻抗分析功能，覆蓋1Hz至12GHz頻段，適用于通信、電力、科研等領(lǐng)域的高精度檢測。
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詳細摘要： GDS-80無源晶體諧振器測試儀具備頻率測量和阻抗分析功能，覆蓋1Hz至12GHz頻段，適用于通信、電力、科研等領(lǐng)域的高精度檢測。
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詳細摘要： GDS-70有源晶振參數(shù)檢測設備具備頻率測量和阻抗分析功能，覆蓋1Hz至12GHz頻段，適用于通信、電力、科研等領(lǐng)域的高精度檢測。
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詳細摘要： GDS-5B插件晶振頻率計采用DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可精確測量諧振頻率、ESR、動態(tài)電容等參數(shù)，適合生產(chǎn)線和實驗室使用。
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詳細摘要： GDS-5T石英貼片晶振檢測儀支持13位頻率和四位PPM同時顯示，內(nèi)置SPC統(tǒng)計功能，適用于工廠質(zhì)量檢測和來料檢驗場景。
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