光譜儀上照式和下照式區(qū)別僅僅從最初的原理來說，上照式不容易被粉末污染(粉末不容易往上飛)，下照式容易掉粉末下來到測(cè)量室、還可能污染到鈹窗。下面和一六儀器一起了解光譜儀上照式和下照式區(qū)別及優(yōu)勢(shì)。

　　上照式光譜儀就是射線管在樣品上方，樣品分析面向上。這樣的優(yōu)點(diǎn)在于分析粉末壓片、疏松粉末和液體樣品時(shí)，樣品破損不會(huì)損壞X射線管，但上照式結(jié)構(gòu)需要一套復(fù)雜的機(jī)械進(jìn)樣裝置。上照式熒光分析儀樣品到X射線管的距離每次都需要定位，如果出現(xiàn)誤差的話會(huì)對(duì)分析結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。

　　光譜儀上照式優(yōu)勢(shì)：

　　1.在超大樣品，異形件，密集多點(diǎn)檢測(cè)或自動(dòng)檢測(cè)多個(gè)小部位時(shí)，上照式更適用;

　　2.在滿足客戶定制服務(wù)上，上照式滿足性更足，可將各模塊(如全自動(dòng)，AI影像識(shí)別等)均可搭配集成應(yīng)用上，滿足使用同時(shí)給儀器加分，差異化國(guó)內(nèi)同行;

　　下照式光譜儀X射線管在分析樣品下方，樣品分析面向下，這樣不需要復(fù)雜的進(jìn)樣裝置，樣品到X射線管的距離固定，下照式結(jié)構(gòu)更加有利于空間的利用，但下照式結(jié)構(gòu)問題在于破損的樣品會(huì)污染X射線管，造成較大的損失。

　　光譜儀下照式優(yōu)勢(shì)：

　　1.在絕大多數(shù)電鍍工藝，上下照式均能滿足，下照式有價(jià)格優(yōu)勢(shì);

　　2.在均能解決客戶問題基礎(chǔ)上，根據(jù)客戶預(yù)算或行業(yè)特性(比如緊固件)，非大件異形，匹配產(chǎn)品下照式更有優(yōu)勢(shì);

　　3.后期維保方面，下照式結(jié)構(gòu)精簡(jiǎn)、小而輕便，維護(hù)成本更低。

　　以上就是一六整理分享的關(guān)于光譜儀上照式和下照式區(qū)別及優(yōu)勢(shì)。想了解更多相關(guān)資訊，歡迎持續(xù)關(guān)注。