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武漢普賽斯儀表有限公司
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霍爾傳感器來料測試儀

參   考   價: ¥ 1000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號CTMS1000A

品       牌普賽斯儀表

廠商性質生產商

所  在  地武漢市

聯(lián)系方式:陶小姐查看聯(lián)系方式

更新時間:2025-01-10 13:17:27瀏覽次數(shù):775次

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產地 國產 加工定制 是
霍爾傳感器來料測試儀集多種測量和分析功能一體,可精準測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高達1000A

霍爾傳感器來料測試儀

  在霍爾電流傳感器的研發(fā)、使用過程中,對器件的  響應速度、線性度、精度等特性的測量尤為重要,對確 保器件性能穩(wěn)定、可靠工作,以及指導器件選型使用具  有重要意義。 

  線性度:輸出信號(副邊電流IS)與輸入信號(原邊  電流IP)在測量范圍內成正比的程度。比如電流40A的 時候輸出4V(或50mA),則在電流為20A時,輸出應該為   2V(或25mA),這些都是理想值,實際輸出會有些偏差,   偏差值和理想值的比值就是線性誤差,線性誤差值越小,檢測精度就越高,電流傳感器的線性度就是通 過線性誤差來表示。

  精度:電流傳感器測試值與真實值的偏離程度。電 流傳感器精度測試取決于器件本身的性能,也與用于 標定的標準測試源的精度有很大關系。 響應時間:輸出信號的上升時間和實際信號的上升時間有會有一個延遲,這個延遲就叫響應時間,也就 是輸出信號(副邊電流IS)與輸入信號(原邊電流IP)的 時間差。 

      溫度漂移:當電流傳感器工作環(huán)境溫度變化時,其 輸出測試值會因此產生偏差。測量器件在不同溫度下  的穩(wěn)定輸出性能,對使用具有重要的指導意義。 

      響應帶寬:在只定的幅值輸入信號和特定頻率下, 電流傳感器的輸出幅值會衰減至只定比例值,一般為 -1dB或者-3dB。一般而言,電流傳感器的輸出響應信 號,會隨著原邊電流值以及頻率增加,而出現(xiàn)的衰減的 現(xiàn)象。

       

霍爾傳感器來料測試儀

圖: 線性度測試曲線


霍爾傳感器來料測試儀

圖: 響應時間測試曲線


普賽斯電流傳感器測試解決方案 

霍爾傳感器來料測試儀 

  普賽斯CTMS電流傳感器測試系統(tǒng),可用于精準測  量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾 森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高 達1000A。測試參數(shù)包括:直流參數(shù)如溫度漂移、零點  誤差、線性度等,和交流參數(shù)如響應時間、帶寬、噪聲頻 譜等。 CTMS電流傳感器測試系統(tǒng)總體上包括:測試設 備、上位機控制系統(tǒng)、測試夾具等。其中測試設備主要  包括直流大電流源設備、階躍脈沖電流源設備、寬頻帶 大電流源設備、頻譜儀、示波器、電流方向切換裝置、環(huán) 境溫度模擬裝置、傳感器供電裝置、數(shù)據(jù)采集裝置等。  上位機控制系統(tǒng)主要包括對儀器的控制、數(shù)據(jù)自動采 集、自動保存、數(shù)據(jù)的生成等功能模塊以及測試界面的設計。

霍爾傳感器來料測試儀

圖: 普賽斯CTMS電流傳感器測試系統(tǒng)


零點、靈敏度、線性度測試 

  在標準供電以及環(huán)境溫度條件下,參照電流傳感器的量程,按照10%步進為一個測試點(或者根據(jù)客戶只定電流步進)測量傳感器輸出信號。

響應時間測試

  在標準供電以及環(huán)境溫度條件下,電流傳感器在  額定原邊電流值時的輸出響應時間。對于閉環(huán)霍爾電 流傳感器,響應時間一般為μs級別。因此,這就要求用 于測試的原邊電流輸出源,能夠具有快速電流輸出能  力。此外,搭建電路時一定要將用于測試原邊電流信號 與電流傳感器輸出信號的探頭均接入示波器,保證同布采集信號。

溫度漂移測試

  溫度下的輸出信號特征曲線。  在標準供電條件下,測試電流傳感器在不同環(huán)境溫度下的輸出信特征曲線。

頻率帶寬測試 

  在標準供電以及環(huán)境溫度條件下,測試電流傳感  器在不同頻率帶寬正弦波的電流傳感器輸出信號響應特征曲線。


大電流脈沖電源HCPL100 

  普賽斯大電流脈沖電源HCPL100是武漢普賽斯打  造的大電流、高精度、寬測量范圍的專用測試電源,具 有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(15μS)、支持輸  出極性切換等特點。

霍爾傳感器來料測試儀霍爾傳感器來料測試儀


夾具 

 針對不同的封裝形式,設計了不同的固定夾具,可  滿足常規(guī)封裝的測試,如QFN、SOIC、SOICW、PFF、 PSF及穿芯式。

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