詳細(xì)摘要： 樣品容量：全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安裝樣品
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-16 在線留言
青島佳鼎分析儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： 樣品容量：全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安裝樣品
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詳細(xì)摘要： CS4800提供高質(zhì)量的SEM成像、改進的測量精度以及快速、自動化的操作，旨在提高現(xiàn)有生產(chǎn)線的生產(chǎn)力和運營效率，并提高客戶的過程控制能力
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細(xì)摘要： SEMVisionG2的檢測組裝和處理使微小和淺缺陷的高質(zhì)量地形圖像成為可能
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細(xì)摘要： Surfscan®SP2和SP2XP系統(tǒng)是KLA革命性的SurfscanSP1平臺的第二代產(chǎn)品，用于無圖案晶圓檢測
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細(xì)摘要： TOPCON拓普康芯片外觀檢測設(shè)備Vi4202可以全自動檢查在晶片上圖案化的芯片和在擴展前切割的晶片（表面朝上/背面朝上）中的微小異物和缺陷，并以芯片為單位確定...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言
詳細(xì)摘要： Hitachi日立電子顯微鏡SEMS-2600N，于2003年投入使用，用于晶圓檢測
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-10 在線留言
詳細(xì)摘要： 超高分辨率冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000超高的分辨率(0.4nm)快速更換樣品
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現(xiàn)0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司(總經(jīng)理MaxHaider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 現(xiàn)有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regu...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 一、設(shè)備用途：用于半導(dǎo)體樣品的形貌、結(jié)構(gòu)研究及樣品的元素分析
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 特征尺寸測量用掃描電子顯微鏡CD-SEMS-8840，適用于6英寸和8英寸晶圓的線寬測試
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 日立CD-SEM二手現(xiàn)貨掃描電鏡S-9220適用于8英寸晶圓的監(jiān)測，CD檢測范圍0.1~2.0μm，吞吐量45wph，放大倍數(shù)1000~300,000
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-26 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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