詳細(xì)摘要： BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀XDC以X-射線為檢測光源，避免了對小顆粒樣品的消光校正，廣泛應(yīng)用于陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2020-04-09 在線留言北京世紀(jì)朝陽科技發(fā)展有限公司
北京世紀(jì)朝陽科技發(fā)展有限公司
詳細(xì)摘要： BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀XDC以X-射線為檢測光源，避免了對小顆粒樣品的消光校正，廣泛應(yīng)用于陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制。
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詳細(xì)摘要： BI-DCP 圓盤式離心/沉降粒度儀廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。
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詳細(xì)摘要： EyeTech粒度分析儀*的激光阻隔時間分析技術(shù)（LOT），可快速準(zhǔn)確地進行粒度分析；通過使用視頻的精密動態(tài)圖像分析技術(shù)，準(zhǔn)確描述非球形材料；其測量結(jié)果與顆?；?..
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詳細(xì)摘要： ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量，ZetaPALS的出現(xiàn)為...
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詳細(xì)摘要： 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀價格它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。
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詳細(xì)摘要： 173Plus多角度粒度分析儀突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上...
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詳細(xì)摘要： 90Plus亞微米激光粒度分析儀基于動態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。
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詳細(xì)摘要： 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering, DLS）, 即由于顆...
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詳細(xì)摘要： 90Plus PALS 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍，可適用于諸如低介電常數(shù)、 高粘度、 高鹽度以...
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詳細(xì)摘要： omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2020-04-09 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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