北京世紀朝陽科技發(fā)展有限公司
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所 在 地北京市
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更新時間:2020-04-09 11:09:27瀏覽次數(shù):541次
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omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進行了完美結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中,既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號,又可以有效地提高了測量濃度上限,可達40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進行測量)的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
1.高靈敏性,粒度測量范圍:0.3nm~10μm;
2.突破性的三檢測角度設(shè)計,測量角度:15°、90°和173°;
3.硬件PALS技術(shù),靈敏度高1000倍,適用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系;
4.濃度范圍:0.1ppm至40%w/v;
5.可作為在線檢測器與GPC/SEC連接,并通過SLS、DLS、光強和粒徑監(jiān)測聚集過程;
6.綜合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件;
7.*的數(shù)據(jù)分析功能,可自動研究粒度隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數(shù)變化的趨勢分析.
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