當(dāng)前位置：廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司>>膜厚儀>>白光干涉測厚儀>>TF200-DUV反射式膜厚測試儀

TF200-DUV反射式膜厚測試儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地廣州市

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：周小姐查看聯(lián)系方式

更新時間：2026-04-17 07:38:20瀏覽次數(shù)：377次

聯(lián)系我時，請告知來自儀表網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  膜厚儀

薄膜厚度測定儀

薄膜厚度儀

光學(xué)膜厚儀

白光干涉測厚儀

全部產(chǎn)品列表

  其他品牌

廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：179條

所在地區(qū)：廣東廣州市

聯(lián)系人：周小姐（銷售）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

TF200-DUV反射式膜厚測試儀探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

品牌	自營品牌	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)

TF200-DUV反射式膜厚測試儀

儀器介紹

TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

TF200-DUV反射式膜厚測試儀

產(chǎn)品特點

快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價比高

應(yīng)用案例

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS，SOI等）

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等）

觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、Hard Coating DLC等）

醫(yī)學(xué)（聚對二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等）

技術(shù)參數(shù)

型號	TF200-VIS	TF200-EXR	TF200-DUV	TF200-XNIR
波長范圍	380-1050nm	380-1700nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范圍	50nm-40um	50nm-300um	1nm-30um	10um-3mm
準(zhǔn)確度¹	2nm	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°	90°
樣品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
測量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm	2mm
是否能在線	是	是	是	是
掃描選擇	XY可選	XY可選	XY可選	XY可選