詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述科研級(jí)明暗場(chǎng)正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、...
產(chǎn)品型號(hào)：XJ-58C所在地：上海更新時(shí)間：2023-10-24 在線留言上海蒲柘光電儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述科研級(jí)明暗場(chǎng)正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述科研級(jí)暗場(chǎng)金相顯微鏡XJ-52BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂...
產(chǎn)品型號(hào)：XJ-52BD所在地：上海更新時(shí)間：2023-10-23 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述三目暗場(chǎng)金相顯微鏡XJ-55BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的...
產(chǎn)品型號(hào)：XJ-55BD所在地：上海更新時(shí)間：2023-10-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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