詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號：XJ-52DIC所在地：上海更新時間：2023-10-23 在線留言上海蒲柘光電儀器有限公司
上海蒲柘光電儀器有限公司
暫無信息 |
詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號：XJ-52DIC所在地：上海更新時間：2023-10-23 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號：XJ-55DIC所在地：上海更新時間：2023-10-23 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-51DIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號：XJ-51DIC所在地：上海更新時間：2023-10-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設(shè)計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼