詳細摘要： 華科智源靜態(tài)參數(shù)測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2026-03-03 在線留言深圳市華科智源科技有限公司
深圳市華科智源科技有限公司
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詳細摘要： 華科智源靜態(tài)參數(shù)測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2026-03-03 在線留言
詳細摘要： 華科智源靜態(tài)參數(shù)測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-1600A-MT所在地：深圳市更新時間：2026-03-03 在線留言
詳細摘要： 華科智源分立器件測試儀設(shè)備，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-DC-2010所在地：深圳市更新時間：2026-03-03 在線留言
詳細摘要： 華科智源分立器件測試儀設(shè)備，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-DC-2010所在地：深圳市更新時間：2026-03-03 在線留言
詳細摘要： ★符合標準：試驗線路及試驗方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標準要求?！镞m用范圍：系統(tǒng)能滿足各...
產(chǎn)品型號：HK-HTRB-C16P所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
產(chǎn)品型號：HUSTEC-3000所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實驗的關(guān)...
產(chǎn)品型號：GKH-PC-3000A所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： C組：封裝完整性試驗，包括振動、沖擊、恒加速應(yīng)力、跌落、扭力、切應(yīng)力、拉力、熱阻等
產(chǎn)品型號：振動、沖擊、恒加速應(yīng)力、跌落、扭力、切應(yīng)力、拉力測試等所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源-IOL間歇壽命測試系統(tǒng)，測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用...
產(chǎn)品型號：HK-IOL-16H所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源-HTGB高溫柵偏系統(tǒng)，將被測量元件放置在一定的環(huán)境溫度中，給被測元件的柵極施加一定的偏置電壓。系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流、電壓，當被測材料實時漏電流...
產(chǎn)品型號：GKH-HTGB-C16所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： B組：加速壽命模型實驗 高溫反偏試驗及高溫柵偏試驗 詳情下載附件
產(chǎn)品型號：高溫反偏試驗及高溫柵偏試驗所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： AEC-Q101認證為汽車級半導體分立器件應(yīng)力測試，主要對汽車分立器件的可靠性及電性能等測試。詳細標準可以下載查看附件內(nèi)容。
產(chǎn)品型號：AEC-Q101 H3TRB,IOL,PC,SEM所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源基于多年可靠性測試經(jīng)驗所研發(fā)的功率器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)PSL-DH3TRB適用于SiC-MOSFET 單管和模塊的動態(tài)可靠性測試。通過自主設(shè)計的驅(qū)動電...
產(chǎn)品型號：PSL-DH3TRB所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源基于多年可靠性測試經(jīng)驗所研發(fā)的功率器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)PSL-DRB適用于SiC-MOSFET 單管和模塊的動態(tài)可靠性測試。通過自主設(shè)計的驅(qū)動電源/驅(qū)...
產(chǎn)品型號：PSL-DHTRB所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源基于多年可靠性測試經(jīng)驗所研發(fā)的功率器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)PSL-DHTGB適用于SiC-MOSFET 單管和模塊的動態(tài)可靠性測試。通過自主設(shè)計的驅(qū)動電源...
產(chǎn)品型號：PSL-DHTGB所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng) DHTGB/DHTRB/DH3TRB
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 桌面式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng) DHTGB/DHTRB
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 柜式動態(tài)測試系統(tǒng) PSL-AC-2000PRO
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 品牌： 華科智源 名稱： SIC動態(tài)參數(shù)測試儀 型號： HUSTEC-3000 用途： SIC器件，MOS管， IGBT測試
產(chǎn)品型號：hustec-3000所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言
詳細摘要： 華科智源-二極管浪涌電流測試儀，可測試二極管，MOS，IGBT，以及SIC器件浪涌電流能力，可輸出底寬10ms，8.3ms，1ms，10us等正弦半波或方波，浪...
產(chǎn)品型號：HUSTEC-IFSM-1200A所在地：深圳市更新時間：2026-02-21 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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