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J-RAS中國總代CAF離子遷移測試裝置ECMr-500（2026年發(fā)布）集成兩大經(jīng)典機(jī)型優(yōu)勢，支持最高500V遷移測試與16ms高速采樣。采用高邊測量方式，實(shí)...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～100...
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