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CAF測試過程中，絕緣電阻閾值的設定與判定邏輯，是保證測試結(jié)果客觀可復現(xiàn)的核心環(huán)節(jié)，既不能設置過松漏判潛在失效，也不能設置過嚴引入不必要的誤判，需要結(jié)合測試標準與產(chǎn)品實際工況綜合確定。常規(guī)CAF測試的...
在精密制造與材料檢測場景中，大量樣品對接觸式測量的損傷風險十分敏感，軟質(zhì)光學薄膜、脆弱MEMS微結(jié)構(gòu)、拋光后的超光滑表面，都難以承受探針劃過帶來的細微劃痕。白光干涉儀依托非接觸式光學測量原理，無需觸碰...
傳統(tǒng)單通道離子遷移試驗裝置單次僅能完成一組樣品的測試，在PCB可靠性驗證、多組分氣體篩查等需要批量長時間測試的場景中，測試效率較低，難以同時滿足多個試樣的并行監(jiān)測需求。多通道離子遷移試驗裝置的研制，正...
近年來，東南亞加速承接全球電子制造產(chǎn)能轉(zhuǎn)移，PCB工廠擴產(chǎn)、先進封裝產(chǎn)線落地、汽車電子需求爆發(fā)，帶動了對可靠性檢測設備的強勁需求。而THECA作為東盟地區(qū)、專業(yè)性的電子電路行業(yè)展會，于2026年8月2...
在汽車零部件的全生命周期驗證體系中，耐候性能是直接影響車輛長期使用穩(wěn)定性的核心指標，高壓蒸煮試驗箱作為其中的常規(guī)測試設備，在模擬高溫高濕復合環(huán)境、提前暴露材料潛在缺陷的環(huán)節(jié)，發(fā)揮著關鍵支撐作用。汽車行...
在半導體行業(yè)，產(chǎn)品從晶圓封裝到終端應用，每一個環(huán)節(jié)的可靠性都直接決定下游整機的長期穩(wěn)定性。隨著芯片制程不斷縮小、封裝密度持續(xù)提升，傳統(tǒng)常規(guī)環(huán)境試驗已經(jīng)難以覆蓋復雜工況下的潛在失效風險，高加速壽命試驗箱...
在制造業(yè)質(zhì)檢環(huán)節(jié)升級的過程中，不少工廠過去分散配置多臺單一功能測試設備的模式，逐漸顯現(xiàn)出流程繁瑣、數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一的問題。一臺合格的工業(yè)級恒溫恒濕試驗箱，就可以覆蓋常規(guī)的高溫、低溫、恒定濕熱、溫濕度交變等...
2026年8月26日-8月28日期待與您相遇
HIRAYAMA高加速壽命試驗箱（HAST）：雙腔體精控，為可靠性驗證注入“硬核”實力在電子產(chǎn)品日益精密、可靠性要求不斷提升的今天，如何高效、精準地模擬**環(huán)境，加速暴露產(chǎn)品潛在缺陷，成為研發(fā)與質(zhì)量管...
在電子元件、印刷電路板（PCB）及食品接觸材料等領域，離子遷移現(xiàn)象已成為影響產(chǎn)品壽命與安全性的核心因素。離子遷移測試通過模擬高溫高濕環(huán)境，檢測材料內(nèi)部離子遷移引發(fā)的絕緣劣化、短路等風險，為產(chǎn)品質(zhì)量控制...
氣候環(huán)境類可靠性測試我們知道環(huán)境可靠性測試是要求產(chǎn)品在設計、應用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響，而仍能夠正常工作，這就需要在使用環(huán)境中試驗產(chǎn)品設備并不斷對其驗證。而其中的使用環(huán)境大...
高速抽樣處理因離子遷移現(xiàn)象導致的電阻值變化如以下情況：高速抽樣處理的情況：抽樣處理慢的情況：高速與普通處理，檢測結(jié)果有很大偏差：全部通道同時抽樣處理：多個通道同時發(fā)生離子遷移現(xiàn)象的情況如下：單一AD掃...
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