詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度 可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度 追加了大范圍的...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-13 在線留言
大塚電子（蘇州）有限公司
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度 可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度 追加了大范圍的...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-13 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 多角度測量，分辨率更高 粒子濃度測量 微流變學(xué)測量 凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析 新型平板cell unit 標(biāo)準(zhǔn)flow cell unit 可連續(xù)測量粒...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-13 在線留言
詳細摘要： OPTM系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析?？赏ㄟ^非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、...
產(chǎn)品型號：OPTM所在地：國外更新時間：2022-09-29 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 測量精度高 可瞬間測量量子效率（量子收率） 可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器，大...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理） 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 與產(chǎn)線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） 同以往的產(chǎn)品相比，測量?演算?評價1個周期有可到...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應(yīng)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 以非接觸方式測量晶圓等的研磨和拋光工藝，超高速、實時、高精度測量晶圓和樹脂 產(chǎn)品詳細信息 特點 非接觸式，非破壞性厚度測量 反射光學(xué)系統(tǒng)（可從一側(cè)接觸測量） 高...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特長 非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品 反復(fù)性?再現(xiàn)性高 無標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道厚度 測量徑很小，不受斑點的影響 樣品位置無需調(diào)整，放進去即可。 穩(wěn)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的*功能 無復(fù)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（ 第4834847號） 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實時測量膜厚 ...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應(yīng)CIE推薦的...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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