詳細(xì)摘要: SF-3晶圓厚度測(cè)量?jī)x使用分光干涉法原理,可對(duì)硅厚度、碳化硅厚度、氮化硅厚度、藍(lán)寶石厚度等多種特殊材料實(shí)現(xiàn)高速無(wú)損、非接觸式測(cè)量,可用于晶圓減薄過(guò)程中的厚度實(shí)時(shí)...
產(chǎn)品型號(hào):SF-3所在地:國(guó)外更新時(shí)間:2021-06-17 在線留言
大塚電子(蘇州)有限公司
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產(chǎn)品型號(hào):SF-3所在地:國(guó)外更新時(shí)間:2021-06-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
商 鋪:大塚電子(蘇州)有限公司 http://m.liuyangwu.com/st134179/
主營(yíng)產(chǎn)品:納米粒度儀,膜厚儀
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