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NANOVEA非接觸式光學(xué)輪廓儀

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更新時(shí)間：2022-04-01 14:31:20瀏覽次數(shù)：151次

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上海艾堯科學(xué)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

NANOVEA非接觸式光學(xué)輪廓儀

詳細(xì)介紹

美國NANOVEA非接觸式三維輪廓儀

PS50型三維表面形貌儀是美國NANOVEA公司推出的一款科研版的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備，采用的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器性價(jià)比高，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
產(chǎn)品原理：采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率

- 利用白光點(diǎn)光源，光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差，不同波長的光分開后入射到被測(cè)樣品上。

- 位于白光光源的對(duì)稱位置上的超靈敏探測(cè)器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測(cè)點(diǎn)漫反射后的光。

- 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理，探測(cè)器系統(tǒng)只能接收到被測(cè)物體上單點(diǎn)反射回來的特定波長的光，從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。

- 再通過點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo)，即X-Z坐標(biāo)

- 最后以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)

- 最后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。

- 軟件能夠自動(dòng)獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)。
產(chǎn)品特性：
- 采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率

- 測(cè)量具有非破壞性，測(cè)量速度快，精確度高
- 測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；
- 尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
- 不受環(huán)境光的影響
- 測(cè)量簡單，樣品無需特殊處理
- Z方向測(cè)量范圍大：為27mm
主要功能：

- 可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖；

- 可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像；

- 自動(dòng)得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)（Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku）；

- 自動(dòng)得到樣品的二維面粗糙度（Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku）；

- 可得到樣品的平整度，波紋度等參數(shù)；

- 自動(dòng)校準(zhǔn)功能，例如粗糙度，一般情況下對(duì)于曲面樣品，首先展平，然后自動(dòng)給出粗糙度的參數(shù)；

- 具有尺寸測(cè)量：長度，寬度，角度，深度,臺(tái)階高度；

- 可測(cè)孔洞磨損面積，磨損體積等參數(shù)；

- 具有功率譜密度測(cè)試功能；

- 具有分形統(tǒng)計(jì)功能；

......
主要技術(shù)參數(shù):
- XY全自動(dòng)掃描范圍：50×50（mm）
- XY掃描步長：0.1μm
- 掃描速度：20mm/s