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更新時(shí)間：2026-07-20 13:05:13瀏覽次數(shù)：277次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 儀表網(wǎng)FR-Ultra:晶圓厚度測量系統(tǒng)FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快捷、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層
FR-Ultra: 晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快捷、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
FR-Ultra是用于精確測量由半導(dǎo)體和（或）介電材料制成的厚層和超厚層的專用工具。由于其優(yōu)良的光學(xué)性能，FR-Ultra可用于測量不同平滑度的薄膜和非常厚的襯底。
典型應(yīng)用包括:
厚玻璃的厚度測量(在清晰度不同的情況下厚度可達(dá)2mm)； 晶圓片的厚度測量(如單面或雙面拋光晶圓，直徑可達(dá)12 英寸)。
FR-Ultra可以很容易地與笛卡爾坐標(biāo)系和極坐標(biāo)結(jié)合，用于大面積的厚度測量。
硅片厚度圖(12英寸硅片)
測量原理
白光反射光譜（WLRS）測量在一定光譜范圍內(nèi)從單或多層薄膜堆疊結(jié)構(gòu)的 反射光，其中入射光垂直于樣品表面。藉由測量各個(gè)界面干涉產(chǎn)生的反射光 譜來計(jì)算單層/疊層薄膜的厚度、光學(xué)常數(shù)（n 和k）等。並支持透明或部分反射基材等。
*規(guī)格如有更改，恕不另行通知;
**100μm DSP硅片的測量值對應(yīng)于測量厚度值在精度范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)(0.4%)；
***500μm DSP硅片的測量值對應(yīng)于測量厚度值在精度范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)(0.4%)
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