詳細(xì)摘要： 作為德國(guó)PE公司中國(guó)區(qū)域代理，裕隆時(shí)代向用戶提供基于EBIC電子束感生電流技術(shù)和EBAC電子束吸收電流分析技術(shù)的EFA電性失效分析系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：PE EFA所在地：北京市更新時(shí)間：2022-12-06 在線留言
北京裕隆時(shí)代科技有限公司
會(huì)員1.png)
北京裕隆時(shí)代科技有限公司
詳細(xì)摘要： 作為德國(guó)PE公司中國(guó)區(qū)域代理，裕隆時(shí)代向用戶提供基于EBIC電子束感生電流技術(shù)和EBAC電子束吸收電流分析技術(shù)的EFA電性失效分析系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：PE EFA所在地：北京市更新時(shí)間：2022-12-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 裕隆時(shí)代作為德國(guó)PE公司中國(guó)區(qū)代理，向用戶提供品質(zhì)優(yōu)秀的HT BSE 掃描電鏡高溫背散射電子探測(cè)器。適用于高溫環(huán)境應(yīng)用的BSE背散射電子探測(cè)器。
產(chǎn)品型號(hào)：HT BSE所在地：北京市更新時(shí)間：2022-11-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 裕隆時(shí)代向用戶提供品質(zhì)優(yōu)秀的PE公司BSE掃描電鏡背散射電子探測(cè)器
產(chǎn)品型號(hào)：BSE所在地：北京市更新時(shí)間：2022-11-30 在線留言
詳細(xì)摘要： EBIC電子束感生電流電性失效分析系統(tǒng)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的圖像采集及分析系統(tǒng)，主要用于半導(dǎo)體器件及其他材料的失效及結(jié)構(gòu)分析。它通過(guò)分析電子束照射...
產(chǎn)品型號(hào)：PEEBIC所在地：北京市更新時(shí)間：2022-11-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 基于更*的薄片技術(shù)，STEBIC掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)擁有更高的空間分辨率將STEM電鏡和EBIC功能互相結(jié)合，為用戶提供更廣闊的的研究手段
產(chǎn)品型號(hào)：PE STEBIC所在地：北京市更新時(shí)間：2022-11-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 裕隆時(shí)代向用戶提供德國(guó)生產(chǎn)高度精密的掃描電鏡3D圖像測(cè)量分析系統(tǒng)，通過(guò)背反射電子探測(cè)器（BSE）獲取4通道信號(hào)，無(wú)需傾斜樣品，即可幫助電鏡用戶快速便捷的獲取高度...
產(chǎn)品型號(hào)：BSE Topography所在地：北京市更新時(shí)間：2022-11-29 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
