北京裕隆時代科技有限公司
PE STEBIC
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更新時間:2022-11-29 17:02:27瀏覽次數(shù):362次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業(yè) | 電子電器 |
基于更*的薄片技術(shù),STEBIC掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)擁有更高的空間分辨率
將STEM電鏡和EBIC功能互相結(jié)合,為用戶提供更廣闊的的研究手段
作為德國PE公司中國區(qū)域代理,裕隆時代向用戶提供基于可靠技術(shù)的掃描透射電子束感應電流分析系統(tǒng)STEBIC。
STEBIC掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)
相比普通EBIC
基于更*的薄片技術(shù),STEBIC擁有更高的空間分辨率
將STEM電鏡和EBIC功能互相結(jié)合,為用戶提供更廣闊的的研究手段
相比電子全息成像系統(tǒng)
無需預先設(shè)置真空系統(tǒng)
無需圖像重建系統(tǒng)
直接解讀圖像信息
相比樣品電流放大器
更高的圖像獲取速度和更短的像素貯存時間(dwell time)
內(nèi)置IV掃視用偏壓電源
自動計算像素定量
有效提升定量測量功能
常規(guī)化電子束電流
直接進行樣品間的對比
復合強度測量
離散強度測量
提升偏壓功能
常規(guī)電鏡操作條件下即可成像
確定薄片間電子關(guān)聯(lián)
檢查IV掃視下電子束對樣品造成的損壞
在相關(guān)聯(lián)的地方,進行電子束吸收電阻變化EBIRCh測量
STEBIC掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)
厚度測量
Si的pn結(jié), 由FIB制樣
重點觀測
EBIC/EBAC的信號重疊
直接關(guān)聯(lián)HAADF
離散強度測量

應用案例
SiGe納米線
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主營產(chǎn)品:掃描電鏡及相關(guān)設(shè)備,材料、半導體、生物等相關(guān)設(shè)備及服務
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