詳細摘要: SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2024-02-17 在線留言深圳市嘉士達精密儀器有限公司
詳細摘要: SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2024-02-17 在線留言詳細摘要: SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、N...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2024-02-15 在線留言詳細摘要: SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設(shè)備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器,主要用來測量薄膜材...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2024-02-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網(wǎng) 設(shè)計制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產(chǎn)品
請簡單描述您的需求
號碼可能有誤,請核對!
請選擇省份