上海德竹芯源科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)
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所 在 地上海
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更新時(shí)間：2024-08-09 07:43:33瀏覽次數(shù)：428次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)Camtek為半導(dǎo)體行業(yè)提供廣泛的檢測(cè)和量測(cè)解決方案。Camtek的檢測(cè)和量測(cè)設(shè)備能夠在高產(chǎn)量下可靠地檢測(cè)出有缺陷的IC，確保只有已知良好的芯片才能最終交付給客戶的產(chǎn)品。
出色的2D檢測(cè)能力
● 算法提供的亞微米缺陷檢測(cè)
● 可導(dǎo)入CAD設(shè)計(jì)圖，基于圖紙檢測(cè)
● 多層RDL應(yīng)用的清晰視覺光源
● 切割后晶片的內(nèi)部裂紋檢查（ICI）
● 背光照明技術(shù)
的平臺(tái)
● 定制光學(xué)器件
● 高強(qiáng)度LED照明
● 顯著提高了產(chǎn)量
突出點(diǎn)
● 檢測(cè)靈敏度Bright Field-0.42μm；Dard Field-0.3μm
● 多重放大，優(yōu)化靈敏度
● 可用分區(qū)域的檢測(cè)算法，以優(yōu)化靈敏度
● 可導(dǎo)入CAD設(shè)計(jì)圖，基于圖紙檢測(cè)
● 能夠在一個(gè)檢測(cè)周期內(nèi)使用不同的聚焦、放大倍率、光源、靈敏度和檢測(cè)引擎運(yùn)行連續(xù)掃描
● 設(shè)備互匹配-從設(shè)備到設(shè)備的簡(jiǎn)單配方傳輸
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