詳細摘要: LST-208型白光共焦法平面度測試儀測量原理本機采用白光共聚焦傳感器掃描法進行表面形貌測量,經(jīng)過測量可以得到Wafer的表面幾何尺寸特征信息
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2024-11-19 在線留言行業(yè)產(chǎn)品
北京三禾泰達技術有限公司
詳細摘要: LST-208型白光共焦法平面度測試儀測量原理本機采用白光共聚焦傳感器掃描法進行表面形貌測量,經(jīng)過測量可以得到Wafer的表面幾何尺寸特征信息
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