詳細摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2025-03-22 在線留言廣州四探針科技有限公司
廣州四探針科技有限公司
詳細摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測...
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詳細摘要： ST-21型方塊電阻測試儀ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一...
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詳細摘要： ST-21H型方塊電阻測試儀ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2025-03-22 在線留言
詳細摘要： ST-20型方塊電阻測試儀ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2025-03-22 在線留言
詳細摘要： XX-2型方塊電阻測試儀XX-2型方塊電阻測試儀是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材...
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詳細摘要： SRM-232型方塊電阻測試儀SRM-232型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜...
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詳細摘要： HP系列四探針探頭HP-501型四探針探頭HP-504型四探針探頭HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭
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詳細摘要： SP-601型方形四探針探頭SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2025-03-22 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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