詳細(xì)摘要: 晶圓探針臺(tái) 用于晶片芯片多種器件電測(cè)量??梢詫?shí)現(xiàn)基礎(chǔ)測(cè)試、保護(hù)氣氛電路測(cè)試、光電流分析、FA失效分析等測(cè)量和分析平臺(tái)。
產(chǎn)品型號(hào):HCP所在地:武漢市更新時(shí)間:2024-10-18 在線留言
武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司
詳細(xì)摘要: 晶圓探針臺(tái) 用于晶片芯片多種器件電測(cè)量??梢詫?shí)現(xiàn)基礎(chǔ)測(cè)試、保護(hù)氣氛電路測(cè)試、光電流分析、FA失效分析等測(cè)量和分析平臺(tái)。
產(chǎn)品型號(hào):HCP所在地:武漢市更新時(shí)間:2024-10-18 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
商 鋪:武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司 http://m.liuyangwu.com/st162765/
主營(yíng)產(chǎn)品:冷熱臺(tái),液氮低溫恒溫器,探針臺(tái)
移動(dòng)端:武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司手機(jī)站
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