當前位置:武漢普賽斯電子股份有限公司>>產(chǎn)品展示
普賽斯APD臺式老化監(jiān)控電源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件,提高器件的品質(zhì)。該系統(tǒng)通過給AP...
硬件支持小電流和大電流兩個檔位,兼容VECSEL和FP/DFB激光器64路老化板作為通用載體,可以實現(xiàn)盤測、老化不同工位直接的轉(zhuǎn)料,提高生產(chǎn)效率
PSS PLT1403脈沖源適用于激光雷達TO、VCSEL陣列等大功率激光器的測試,支持ns窄脈沖、直流PIV特性曲線掃描測試和特性參數(shù)計算,支持光譜特性測試(...
普賽斯高功率BAR條自動測試機支持大電流、ns級窄脈沖條件測試,全自動測試BAR條LIV曲線,光譜,遠場參數(shù)。全自動上下料,支持多種規(guī)格料盒上料,支持多種規(guī)格料...
普賽斯高功率BAR條自動測試機支持大電流、ns級窄脈沖條件測試,全自動測試BAR條LIV曲線,光譜,遠場參數(shù)。全自動上下料,支持多種規(guī)格料盒上料,支持多種規(guī)格料...
本設備應用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片wafer藍膜上料,CHIP-ID自動識別記憶...
本設備應用于可見光CHIP常溫PIV測試、光譜測試并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片藍膜上料,自動尋料、識別定位,通過藍膜頂針剝離芯片、吸嘴吸取、機械手完成...
本設備應用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片wafer藍膜上料,CHIP-ID自動識別記憶...
本設備應用于可見光CHIP常溫PIV測試、光譜測試并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片藍膜上料,自動尋料、識別定位,通過藍膜頂針剝離芯片、吸嘴吸取、機械手完成...
本設備應用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片wafer藍膜上料,CHIP-ID自動識別記憶...
PSS公司的AOS穩(wěn)定光源的核心元器件采用高品質(zhì)帶溫控的DFB蝶形激光器,且內(nèi)置光學隔離器,具有使用簡單,輸出光功率穩(wěn)定性好,光源波長穩(wěn)定性好等特點,且波長可定...
PSS ERM20102插卡式消光比測試儀是用于測試光模塊和光貓BOB的消光比快速測量專用設備,設備內(nèi)部集成光功率計,可同時測試光模塊和光貓BOB的出光功率的大...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,儀表網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。