HAST無(wú)凝露高壓蒸煮試驗(yàn)箱 參考價(jià)：60000
HAST無(wú)凝露高壓蒸煮試驗(yàn)箱專為半導(dǎo)體行業(yè)可靠性驗(yàn)證設(shè)計(jì)。與傳統(tǒng)飽和PCT蒸煮設(shè)備不同，該設(shè)備采用溫度、濕度、壓力三參數(shù)獨(dú)立閉環(huán)調(diào)控方式，實(shí)現(xiàn)無(wú)凝露非飽和濕熱高...
HT-HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：60000
HT-HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)用于加速半導(dǎo)體封裝濕氣滲透、金屬離子遷移、塑封界面分層、絕緣層腐蝕等潛在失效模式的暴露，可縮短芯片老化驗(yàn)證周期。設(shè)備適用于...
非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)HAST 參考價(jià)：60000
非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)HAST非飽和HAST加速老化試驗(yàn)機(jī)（Highly Accelerated Stress Test）專為半導(dǎo)體行業(yè)可靠性驗(yàn)證設(shè)計(jì)。與傳統(tǒng)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
