詳細(xì)摘要: ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀循環(huán)測(cè)試-判定間歇性故障元器件更準(zhǔn)確采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-12 在線留言北京金三航科技發(fā)展有限公司
詳細(xì)摘要: ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀循環(huán)測(cè)試-判定間歇性故障元器件更準(zhǔn)確采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-12 在線留言詳細(xì)摘要: 英國(guó)ABI-LinearMaster手持模擬集成電路測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-12 在線留言詳細(xì)摘要: 測(cè)試管腳:192腳AT192全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍:元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-12 在線留言詳細(xì)摘要: 2048通道器件測(cè)試圖例:集成電路測(cè)試截圖:可以放大觀看單個(gè)管腳PIN測(cè)試通道:二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2048路二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道:2...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: SWA1024大規(guī)模集成電路三維立體動(dòng)態(tài)阻抗V-I-F測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: 二維集成電路專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路二維電路板專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:128路(可擴(kuò)充至2048路)三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: 英國(guó)abi_AT256A4pro4全品種集成電路測(cè)試儀通道配置:二維集成電路專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路二維電路板專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:2...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: SWA512大規(guī)模集成電路三維立體動(dòng)態(tài)阻抗V-I-F測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: 測(cè)試管腳數(shù):256AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍:元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: 二維集成電路專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路二維電路板專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:64/128/192/256路(可擴(kuò)充至2048路)三維掃頻V-I...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-01-11 在線留言詳細(xì)摘要: ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀循環(huán)測(cè)試-判定間歇性故障元器件更準(zhǔn)確;ChipMaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找...
產(chǎn)品型號(hào):ChipMaster所在地:北京市更新時(shí)間:2018-05-15 在線留言詳細(xì)摘要: LinearMaster手持模擬集成電路測(cè)試儀內(nèi)置元件庫(kù)可以擴(kuò)充升級(jí);LinearMaster手持模擬集成電路測(cè)試儀準(zhǔn)確可靠的仿真測(cè)試;全面性測(cè)試更加準(zhǔn)確;顯示...
產(chǎn)品型號(hào):英國(guó)ABI所在地:北京市更新時(shí)間:2018-05-15 在線留言詳細(xì)摘要: AT256全品種集成電路測(cè)試儀zui大測(cè)試管腳數(shù):256;AT256全品種集成電路測(cè)試儀元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試;AT256...
產(chǎn)品型號(hào):AT256所在地:北京市更新時(shí)間:2018-05-15 在線留言詳細(xì)摘要: AT192全品種集成電路測(cè)試儀zui大測(cè)試管腳:192腳;AT192全品種集成電路測(cè)試儀元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試;AT192...
產(chǎn)品型號(hào):AT192所在地:北京市更新時(shí)間:2018-05-15 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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