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SWA2048大規(guī)模集成電路三維立體動(dòng)態(tài)阻抗V-I-F測(cè)試系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2023-01-11 12:13:47瀏覽次數(shù)：467次

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集成電路測(cè)試儀

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2048通道器件測(cè)試圖例：集成電路測(cè)試截圖：可以放大觀看單個(gè)管腳PIN測(cè)試通道：二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：2048路三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路功能用途：1）集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)

詳細(xì)介紹

2048通道

器件測(cè)試圖例：

集成電路測(cè)試截圖：

可以放大觀看單個(gè)管腳PIN

測(cè)試通道：

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：2048路
三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路

功能用途：

1）集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；

2）可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試；

2）快速篩選、仿制集成電路及元器件；

3）對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析；

4）非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析；

5）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；

6）測(cè)試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問(wèn)題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問(wèn)題；

7）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè)；

8）專業(yè)操作管理平臺(tái)：可根據(jù)需求編輯測(cè)試流程程序，完成自定義化測(cè)試，軟件管理平臺(tái)兼容其他廠商設(shè)備。測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過(guò)程，使集成電路、電路測(cè)試的過(guò)程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程）。保證了測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。

技術(shù)規(guī)格：

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路

二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：2048路

三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路

實(shí)時(shí)探筆對(duì)比測(cè)試通道：4路

同步脈沖信號(hào)：4路

測(cè)試電壓范圍：2 V ～ 50 Vp-p；

顯示圖形模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

信號(hào)電流范圍： 1 μA to 150 mA

測(cè)試阻抗范圍 : 100Ω ～ 1MΩ；

三維立體V-I-F測(cè)量方式：掃頻；

同步脈沖輸出模式：?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；

同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V；

主要優(yōu)勢(shì)：

1）提供軟件開發(fā)平臺(tái)，兼容其他廠商測(cè)試設(shè)備；

2）*的V-T模式可測(cè)量器件的開關(guān)時(shí)間特性（配合同步脈沖）；可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試?？蓽y(cè)試三段期間開關(guān)時(shí)間特性。