詳細(xì)摘要: Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng),聯(lián)用AFM顯微鏡,既能實(shí)現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描,獲得高清晰度的圖像,同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)樣品熱學(xué)性質(zhì)的探...
產(chǎn)品型號(hào):VertiSense所在地:上海市更新時(shí)間:2026-05-07 在線留言
上海納騰儀器有限公司
詳細(xì)摘要: Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng),聯(lián)用AFM顯微鏡,既能實(shí)現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描,獲得高清晰度的圖像,同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)樣品熱學(xué)性質(zhì)的探...
產(chǎn)品型號(hào):VertiSense所在地:上海市更新時(shí)間:2026-05-07 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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主營(yíng)產(chǎn)品:俄羅斯產(chǎn)掃描探針顯微鏡;原子力顯微鏡;日本產(chǎn)隔震平臺(tái),德國(guó)產(chǎn)納米光學(xué)輪廓儀,西班牙3維物理教學(xué)系統(tǒng),物理化學(xué)專業(yè)教學(xué)儀器,全光纖多功能實(shí)驗(yàn)平臺(tái)
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