來源：皓天鑫設備有限公司??????????2026年01月08日 11:18
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近日，皓天鑫自主研發(fā)的HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱順利通過連續(xù)1000小時穩(wěn)定運行測試。在整個測試期間，設備始終保持設定的高溫高濕穩(wěn)態(tài)環(huán)境，各項性能參數(shù)精準穩(wěn)定，實現(xiàn)了芯片老化測試連續(xù)可靠運行的新突破。該測試結(jié)果有效應對了芯片行業(yè)在長期可靠性驗證中“測試周期長、環(huán)境波動大、數(shù)據(jù)一致性難保障"的普遍難點，為半導體與集成電路產(chǎn)品的持續(xù)高質(zhì)量驗證提供了堅實支撐。

在芯片可靠性測試領域，設備能否在高溫、高濕、高壓條件下持續(xù)穩(wěn)定運行，直接關系到芯片壽命評估的準確性與測試效率。傳統(tǒng)老化箱在連續(xù)長時間運行中，容易出現(xiàn)溫濕度漂移、均勻性下降等問題，不僅影響測試進程、拉長產(chǎn)品上市周期，還可能因環(huán)境波動導致測試結(jié)果無效，造成研發(fā)資源與時間的雙重損耗。尤其在芯片驗證階段，設備穩(wěn)定性已成為保障測試數(shù)據(jù)可靠、加快產(chǎn)品迭代的關鍵一環(huán)。

皓天鑫HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱能夠?qū)崿F(xiàn)千小時連續(xù)穩(wěn)定運行，核心在于其多層次的技術保障體系。設備采用高密封性箱體結(jié)構(gòu)與均勻循環(huán)風道設計，確保箱內(nèi)各點溫濕度分布高度一致；選用進口高精度傳感器與閉環(huán)控制系統(tǒng)，實時動態(tài)調(diào)節(jié)溫濕度參數(shù)，將波動范圍控制在±0.5%以內(nèi)；搭載智能預警與數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，可實時監(jiān)測試驗狀態(tài)，提前預警潛在異常，確保測試過程全程可追溯、可分析。

測試數(shù)據(jù)表明，設備在連續(xù)1000小時運行期間，溫度均勻性保持在±0.3℃以內(nèi)，濕度偏差不超過±1.5%RH,各項指標均符合芯片行業(yè)嚴苛的測試標準。相較于常規(guī)設備，其連續(xù)運行時長與參數(shù)穩(wěn)定性顯著提升，可支持企業(yè)開展不間斷、高一致性的老化驗證工作，極大提高了測試效率與數(shù)據(jù)可信度。

此次測試獲得行業(yè)內(nèi)多家芯片設計企業(yè)與檢測機構(gòu)關注，部分客戶已前往實地考察并洽談合作。皓天鑫相關負責人表示，設備長期穩(wěn)定運行是可靠性測試裝備的核心價值，本次測試充分體現(xiàn)了公司在環(huán)境模擬與長效控制方面的技術積累。未來，公司將繼續(xù)聚焦高可靠、智能化的測試設備研發(fā)，為芯片行業(yè)提供更精準、更穩(wěn)定的壽命驗證解決方案。行業(yè)分析認為，該設備的成功應用，標志著國內(nèi)芯片老化測試裝備在長效穩(wěn)態(tài)運行方面取得重要進展，將推動相關測試由“分段式"向“連續(xù)化、高可靠"階段邁進。