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全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。

日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量

理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。

波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析

日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量

日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng)

差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。

應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。

德國蔡司 MultiSEM 研究合作計(jì)劃速度非凡的掃描電子顯微鏡

雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。

Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。

Chroma 3650可在一個(gè)測試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。

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雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。

Raytek? Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行的苛刻的...

40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具

AGS-X系列試驗(yàn)機(jī)采用主機(jī)與控制裝置一體化結(jié)構(gòu)，占地面積小，是操作簡便的小型化電子試驗(yàn)機(jī)。該系列機(jī)已經(jīng)取得國際CE認(rèn)證，是目前業(yè)內(nèi)性價(jià)比較高的試驗(yàn)機(jī)。