您好, 歡迎來到儀表網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:上海騰拔儀器科技有限公司>>技術(shù)文章>>質(zhì)構(gòu)儀測(cè)定貯運(yùn)期間葡萄品質(zhì)變化
葡萄在貯運(yùn)過程中由于受到溫度波動(dòng)和機(jī)械振動(dòng)作用,經(jīng)常出現(xiàn)大量損耗的問題。如何解決貯運(yùn)過程中葡萄的損耗問題是當(dāng)下重要的研究課題之一。

通過用質(zhì)構(gòu)儀對(duì)貯運(yùn)過程中葡萄品質(zhì)的測(cè)定,以期為葡萄貯運(yùn)條件的設(shè)置提供一定的參考與依據(jù)。
1穿刺測(cè)定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(或Rapid TA+專業(yè)型質(zhì)構(gòu)儀或Rapid TA實(shí)用型質(zhì)構(gòu)儀)
探頭:P/NP針型探頭

將葡萄顆粒置于針型探頭下進(jìn)行測(cè)試,每個(gè)品種取15個(gè),后算平均值。測(cè)試條件設(shè)置如下
測(cè)試模式:穿刺
測(cè)試前速度:0.5mm/s
測(cè)試速度:0.5mm/s
測(cè)試后速度:5mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式:形變 50%
測(cè)定結(jié)果:可以用于測(cè)定葡萄表皮的穿刺強(qiáng)度
2 TPA測(cè)定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(或Rapid TA+專業(yè)型質(zhì)構(gòu)儀或Rapid TA實(shí)用型質(zhì)構(gòu)儀)
探頭:P/50柱型探頭

將葡萄顆粒置于柱型探頭下進(jìn)行測(cè)試,每個(gè)品種取15個(gè),后算平均值。測(cè)試條件設(shè)置如下
測(cè)試模式:全質(zhì)構(gòu)TPA
測(cè)試前速度:1mm/s
測(cè)試速度:1mm/s
測(cè)試后速度:5mm/s
觸發(fā)力:8g
目標(biāo)模式:形變 30%
兩次下壓間隔時(shí)間:3s
測(cè)定結(jié)果:可以用于測(cè)定葡萄的硬度、彈性、回復(fù)性、內(nèi)聚性和咀嚼性等指標(biāo)。
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),儀表網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。