詳細摘要： 采用激光非接觸式測量，適用于多種材料和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的樣品的三維測量設(shè)備。
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北京歐屹科技有限公司
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詳細摘要： 日本Mitaka（三鷹光器）三維形貌測量儀NH系列，使用激光自動對焦技術(shù)在半導(dǎo)體工業(yè)和超精密加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。通過光學非接觸式的測量，可以全自動并高精度的測...
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詳細摘要： WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為的光學測量產(chǎn)品。...
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詳細摘要： WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又...
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詳細摘要： 鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過程中的，WPA...
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詳細摘要： 非接觸式激光點自動對焦技術(shù)結(jié)合五軸旋轉(zhuǎn)載臺，可進行多種復(fù)雜工件的圓周測量。
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詳細摘要： WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，適合注塑成...
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詳細摘要： PA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，針對玻璃、SIC晶圓、藍寶石等低應(yīng)力雙折射的測量系統(tǒng)，數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布...
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詳細摘要： 近紅外（NIR）應(yīng)力雙折射系統(tǒng)，可針對測量紅外材料的應(yīng)力雙折射信息及內(nèi)應(yīng)力分布，分別有PA-300-NIR與WPA-200-NIR,適用于大多數(shù)紅外材料測量。
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詳細摘要： KAMkIRI系列是日本PHOTRON公司采用偏光影像傳感器的高速相機開發(fā)的在線應(yīng)力雙折測量系統(tǒng)，可在裝配在產(chǎn)線上，實時測量應(yīng)力雙折射信息。
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詳細摘要： 日本Lasertec公司提供的ECCS B310/B320型電化學反應(yīng)可視化共焦系統(tǒng)，可以實現(xiàn)充放電狀態(tài)下，鋰電池的電化學反應(yīng)進程分布的觀察、定量化。本系統(tǒng)使用...
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詳細摘要： Lasertec自動缺陷檢測系統(tǒng) OPTELICS AI2自動缺陷檢測、高倍率缺陷觀察、3D形狀測量，多步解析，一臺實現(xiàn)。
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詳細摘要： 日本Lasertec公司推出了Optelics Hybrid 混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學器件與附加器件相...
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詳細摘要： 日本Lasertec以雙共聚焦光學系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測試，僅需一臺設(shè)備即...
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詳細摘要： WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精...
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詳細摘要： 硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或...
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詳細摘要： 顯微型應(yīng)力雙折射測量儀WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使...
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