詳細摘要： 本產品關鍵部位采用AuSn硬焊料封裝，AuSn焊料良好的焊接性能、浸潤性、工作溫度及較高的導熱性能，保證了產品的一致性和可靠性。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2025-12-28 在線留言
北京歐屹科技有限公司
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詳細摘要： 本產品關鍵部位采用AuSn硬焊料封裝，AuSn焊料良好的焊接性能、浸潤性、工作溫度及較高的導熱性能，保證了產品的一致性和可靠性。
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詳細摘要： 本產品采用高熱導率無氧銅熱沉封裝，具有超高的導熱性能，確保了整個產品封裝后性能更穩(wěn)定.本產品可用于激光醫(yī)療、激光泵源以及塑料材料加工等方面。
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詳細摘要： 歐屹科技在激光測距和激光雷達方面具有多年經(jīng)驗，歐屹科技自行研發(fā)的小型激光器廣泛應用從基于FoT技術的幾百米測距，到5公里，10公里，30公里測距領域，歐屹科技代...
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詳細摘要： 日本Photonic Lattice, Inc.基于自研的光子晶體技術開發(fā)的一款高速膜厚測量儀ME-210，與傳統(tǒng)點測的橢偏儀不同，ME-210通過點掃描的方式...
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詳細摘要： 非接觸式內周面測量儀，利用近紅外光學干涉實現(xiàn)內周面可視化，設備結合了小的 φ0.9mm 電機和光學成像探頭，并配備了傾斜校正算法。儀器不僅可以觀察和測量孔加工零...
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詳細摘要： Adamａnd Namiki開發(fā)了NMH-01通過微電機和的光學成像探頭，利用光學干涉實現(xiàn)內型面的測量，內徑測量最小可達1.1mm，同時測量內徑、真圓度、內型表...
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詳細摘要： ? PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近...
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詳細摘要： Freeform X 是久經(jīng)考驗的 Nanoform X 和 Freeform L 產品的延伸，從而打造出高度靈活的 5 軸系統(tǒng)，占地面積小。Freeform ...
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詳細摘要： CVS-S作為一款亞微米級異塵埃粒子可視化檢測系統(tǒng)，借助非激光光源與高靈敏度相機的協(xié)同配合，能夠對生產環(huán)境中的微小異物進行非接觸式實時監(jiān)測。該系統(tǒng)成功tianb...
產品型號：CVS-S所在地：北京市更新時間：2025-11-20 在線留言
詳細摘要： Bump 3D檢測系統(tǒng)是半導體及電子制造領域的高精度檢測設備，核心優(yōu)勢在于亞微米至納米級測量精度。它依托多光束共聚焦技術，可精準捕捉 Bump 高度、直徑、共面...
產品型號：SVI-S10220所在地：北京市更新時間：2025-11-10 在線留言
詳細摘要： 三硼酸鋰晶體以其高損傷閾值、優(yōu)異的紫外透過性和良好的物理化學穩(wěn)定性，在過去幾十年中極大地推動了高功率全固態(tài)激光器，特別是紫外激光器的發(fā)展。它是現(xiàn)代激光工業(yè)和技術...
產品型號：oelbo001所在地：北京市更新時間：2025-10-20 在線留言
詳細摘要： PHL相位差測量儀PA-Micro是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-10-06 在線留言
詳細摘要： 相位差測量儀WPA-200-L可測量相位差高達3500nm，適合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，*的...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-10-06 在線留言
詳細摘要： PHL應力雙折射測量儀WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，*的測量技術，高速而又的測量能力使其成為*的...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-10-04 在線留言
詳細摘要： 無掩膜顯微型光刻機裝置 UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結合的縮小投影型無掩模曝光系統(tǒng)，其*傳統(tǒng)系統(tǒng)（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統(tǒng)）可以使用專門為此目...
產品型號：UTA所在地：北京市更新時間：2021-01-21 在線留言
詳細摘要： 微區(qū)取樣儀是微小物體分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，還有時會因為待測物尺...
產品型號：AXISpro所在地：北京市更新時間：2021-01-21 在線留言
詳細摘要： 雙折射測量儀WPA-200-MT鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2020-12-25 在線留言
詳細摘要： 雙折射測量儀內應力測量WPA-200可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2020-12-25 在線留言
詳細摘要： PHL雙折射測量儀WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，*的測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為...
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詳細摘要： 雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2020-12-25 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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