GWJDN-1400型1400℃四通道超高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：1400℃, 四通道，介電溫譜

環(huán)境下超高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)必要性和意義

基礎(chǔ)研究：揭示條件下材料極化、相變、缺陷運(yùn)動(dòng)的物理規(guī)律，推動(dòng)凝聚態(tài)物理發(fā)展

材料創(chuàng)新：支撐超高溫透波材料、壓電材料、儲(chǔ)能介質(zhì)、絕緣材料的研發(fā)與性能優(yōu)化

裝備升級(jí)：保障高超聲速飛行器、航空發(fā)動(dòng)機(jī)、核電裝備等 "大國(guó)重器" 的關(guān)鍵部件性能

GWJDN-1400型1400℃四通道超高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)是一款應(yīng)用于超高溫環(huán)境下對(duì)材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。連續(xù)測(cè)量電介質(zhì)材料復(fù)介電常數(shù)、介電損耗、阻抗、電導(dǎo)隨溫度、頻率變化規(guī)律，繪制介電溫譜、介電頻譜、Nyquist 阻抗圖、Cole-Cole 圖，核心用于定位居里溫度、相變溫度、高溫介電弛豫、電導(dǎo)激活能，是壓電 / 鐵電陶瓷、高溫透波材料、單晶、復(fù)合介質(zhì)核心表征設(shè)備。是研究環(huán)境下材料性能的新一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng)，性能，科研級(jí)別的測(cè)試裝置。

一、適用測(cè)試材料

1.高溫壓電 / 鐵電陶瓷：鉍層狀陶瓷、KNN 無(wú)鉛壓電、高溫 PZT、BNT 基體系

2.單晶材料：鈮酸鋰、鈦酸鋇單晶、高溫壓電單晶

3.高溫透波陶瓷、氧化鋁、氮化鋁、硅酸鹽介電材料

4.高溫儲(chǔ)能電介質(zhì)、陶瓷基復(fù)合材料

二、工程應(yīng)用意義：支撐環(huán)境器件研發(fā)

1. 航空航天 / 發(fā)動(dòng)機(jī)高溫電子器件 適用于發(fā)動(dòng)機(jī)傳感器、高溫壓電執(zhí)行器、透波材料、耐高溫天線(xiàn)介質(zhì)等，工作溫度接近甚至超過(guò) 1000℃，必須用 1400℃級(jí)測(cè)試驗(yàn)證服役可靠性。

2. 高溫儲(chǔ)能與功率器件 用于新一代高溫儲(chǔ)能陶瓷、固態(tài)電解質(zhì)、高頻高溫電容器，評(píng)估高溫下介電常數(shù)、損耗、絕緣性能，避免高溫失效、熱失控。

3. 環(huán)境傳感與井下 / 核工業(yè)介質(zhì) 井下測(cè)井、核工業(yè)、冶金等場(chǎng)景溫度常超 1000℃，材料必須在該區(qū)間保持穩(wěn)定介電性能，1400℃測(cè)試是選型與壽命評(píng)估的關(guān)鍵依據(jù)。

三、主要技術(shù)參數(shù)：

主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍： 室溫-1400℃

2、測(cè)溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線(xiàn)帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線(xiàn)帶同軸屏蔽層

11、保護(hù)電極：  帶保護(hù)電極，消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線(xiàn)帶同軸屏蔽，樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動(dòng)控制，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉，測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

15、無(wú)電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類(lèi)保存，樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測(cè)量方案： 提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm） 

20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

21、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測(cè)試頻率：20HZ-10MHZ，30MHZ,50MHZ,130MHZ

24、測(cè)試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測(cè)試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測(cè)量：多功能圖形和參數(shù)測(cè)量

31、接口方式: RS232C或HANDLER